[发明专利]加速寿命试验样本分配方法及终端设备

权利要求书

1.一种加速寿命试验样本分配方法，其特征在于，包括：

将预设个数的样本分为多种分组组合，每种分组组合包括一种样本组合方式，且各种分组组合对应相同的加速寿命试验条件；

基于威布尔分布，求解各种分组组合分别对应的威布尔分布参数；

所述基于威布尔分布，求解各种分组组合分别对应的威布尔分布参数，过程为：

设在应力水平S_j(j＝1,2,…,p)下有n_j个样品进行试验，共有q_j个样品失效，失效时间分别为所述加速寿命试验条件为应力水平S_j；

样品寿命t服从威布尔分布，累积失效函数为：

F(t)＝1-exp(-(t/η)^m)

其中，η为威布尔分布的特征寿命，m为威布尔分布的形状参数；

令y＝lnt，则转化为I型极小值分布，其累积失效函数为：

其中，位置参数μ＝lnη，尺度参数

密度函数为：

设定样品寿命满足：在统计上相互独立；在任一应力水平下，样品寿命服从威布尔分布；在各应力水平下，样品寿命分布的参数σ保持不变；寿命分布的参数μ是应力的线性函数，即μ＝a+bx；其中x＝1/T，模型参数a,b,σ由试验数据估计得到；

令y＝lnt，极小值分布的前q_j个顺序统计量分别为令则标准极小值分布的前q_j个顺序统计量为其均值协方差为

由于所以y_ji＝a+bx_j+σμ_ji+ε_ji

其中，ε_ji服从均值0，标准差为σ的极小值分布EV(0,σ)(i＝1,2,…,q_j)，y_ji＝lnt_ji，x_j＝1/T_j，μ_ji是第j个应力水平下，标准I型极小值分布的第i个顺序统计量的均值；

设则g_jkl＝(ν_jkl)^-1，根据加权最小二乘法，令

分别对a,b,σ求偏导，得到以下线性方程：

求解线性方程组得到a,b,σ的估计值

对求解出的各组威布尔分布参数进行优化，并根据优化结果从所述各种分组组合中确定所述预设个数的样本的最优分组组合。

2.如权利要求1所述的加速寿命试验样本分配方法，其特征在于，所述基于威布尔分布，求解各种分组组合分别对应的威布尔分布参数，包括：

对所述试验样本的失效寿命进行顺序统计量处理；

根据顺序统计量处理结果，求解各种分组组合分别对应的威布尔分布参数。

3.如权利要求2所述的加速寿命试验样本分配方法，其特征在于，所述对所述试验样本的失效寿命进行顺序统计量处理，过程为：

设试验样本失效寿命的密度函数为f(t)，分布函数为F(t)，T₁,T₂,T₃,…,T_n为所述试验样本的失效寿命，其值为t₁,t₂,t₃,…,t_n，将所述试验样本的失效寿命从小到大排列，得出T₍₁₎≤T₍₂₎≤T₍₃₎≤…≤T_(n)，即为所述试验样本的失效寿命的顺序统计量，其中n为大于1的整数。