[发明专利]一种显示装置

说明书

本发明涉及一种显示装置，包括：第一基板、第二基板以及设置于该第一基板和该第二基板之间显示分子层，第一基板显示区设置多个薄膜晶体管，多个栅极线，分别与该薄膜晶体管的该控制端电性连接；多个数据端子，位于该周边区，分别与该薄膜晶体管的第一端电性连接；多个虚拟端子，位于该周边区，分别与每个该薄膜晶体管电性绝缘；其中该数据端子与该虚拟端子为沿第一方向交错排列。

技术领域

本发明涉及显示器设计领域，特别是涉及显示器中测试垫(Array Test Pad)的设计以及一种采用该测试垫的显示装置。

背景技术

薄膜晶体管液晶显示器(TFT-LCD，Thin Film Transistor Liquid CrystalDisplay)是一种常见的显示器，TFT-LCD属于有源矩阵液晶显示器，TFT-LCD上的液晶象素点是由薄膜晶体管来驱动，即通过有源开关的方式来实现对各个像素的独立精确控制，从而可以做到高速度高亮度高对比度显示屏幕信息，实现精细的显示效果。

TFT-LCD的结构主要包括CF基板、TFT基板和液晶材料等。在TFT-LCD面板的生产过程中，对TFT基板的电特性进行检查是较为重要的步骤。现有技术通常是通过阵列测试器(Array Tester)利用治具接触测试端子(Array Test Pad，简称ATPad)，将测试信号写入TFT基板内像素并读取电信号以进行检测分析。

但不同TFT-LCD产品有不同的分辨率，如HD720、Full HD等等，对不同分辨率的产品进行电特性检查需要更换不同治具，导致以下问题的产生：

1、每次变更不同分辨率的产品时，都需要花费1～2小时进行治具更换及确认，导致产能降低；

2、每种不同分辨率的产品都需要准备4～8张治具，治具数量会很多，导致成本的提高；

3、适用于一种分辨率的治具的制作需要1～2个月，新产品阶段可能无法及时检测以确认良率状况。

发明内容

针对上述问题，本发明提出了一种显示装置测试端子的设计以及一种采用该测试端子的显示装置。

具体来说，本发明涉及一种显示装置，包括：

第一基板，包括相邻的显示区和周边区；

第二基板，包括多个彩色滤光结构，且该彩色滤光结构对应于该显示区而设置；

显示分子层，设置于该第一基板和该第二基板之间；

多个薄膜晶体管，设置于该显示区，且该薄膜晶体管分别包括第一端、第二端与控制端；

多个栅极线，分别与该薄膜晶体管的该控制端电性连接；

多个数据端子，位于该周边区，分别与该薄膜晶体管的该第一端电性连接；

多个虚拟端子，位于该周边区，分别与每个该薄膜晶体管电性绝缘；

其中该数据端子与该虚拟端子为沿第一方向交错排列。

本发明所述的显示装置，通过该数据端子将输入测试信号写入该薄膜晶体管并读取输出测试信号，以对该显示装置进行检测分析。

本发明所述的显示装置，其中该数据端子与该虚拟端子的数量相同，且两两相邻的该数据端子之间有一个该虚拟端子，两两相邻的该虚拟端子之间有一个该数据端子。

本发明所述的显示装置，其中当该虚拟端子的数量为该数据端子的数量为n倍时，两两相邻的该数据端子之间有n个该虚拟端子，其中n为正整数。

本发明所述的显示装置，其中当该数据端子的数量为该虚拟端子的数量为m倍时，两两相邻的该述虚拟端子之间有m个该数据端子，其中m为正整数。