[发明专利]一种LED老化装置及其LED老化方法在审
申请号: | 201711460232.5 | 申请日: | 2017-12-28 |
公开(公告)号: | CN108152700A | 公开(公告)日: | 2018-06-12 |
发明(设计)人: | 陈君;王彩霞;吕天刚;王跃飞 | 申请(专利权)人: | 鸿利智汇集团股份有限公司 |
主分类号: | G01R31/26 | 分类号: | G01R31/26;G05D23/30 |
代理公司: | 广州中浚雄杰知识产权代理有限责任公司 44254 | 代理人: | 刘刚成 |
地址: | 510890 广东*** | 国省代码: | 广东;44 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 温控板 夹具 老化装置 控制器 老化 芯片 温度监控器 负极 老化过程 直接观察 测试台 恒温箱 储液 管控 腔体 引脚 体内 测试 | ||
一种LED老化装置,包括测试台和控制器,在测试台上设有温控板,在温控板上设有用于放置LED灯珠的夹具,在夹具上设有第二温度监控器,所述温控板包括储液的腔体,所述控制器通过控制温控板内液体的温度控制LED灯珠芯片的温度,该发明中,通过改变温控板的温度来控制LED灯珠的芯片的引脚温度,从而精确的对LED灯珠在老化过程中的LED灯珠负极最接近LED芯片的温度进行管控,该实验不需要在恒温箱体内进行,可直接观察LED灯珠的老化情况。
技术领域
本发明涉及一种LED老化装置及其LED老化方法。
背景技术
目前LED灯珠的高温老化实验是通过控制实验箱内的环境温度然后对LED进行通电老化,但LED在通电的时候会发热并产生温升,在这种情况下,往往会出现LED的结温超出厂商给出的LED产品可以承受的最高温度,无法精确管控LED芯片的温度。
发明内容
本发明要解决的技术问题是提供一种可以在LED老化测试中精确管控LED灯珠芯片负极最接近LED芯片的温度的LED老化装置。
为了解决上述技术问题,本发明包括测试台和控制器,在测试台上设有温控板,在温控板上设有用于放置LED灯珠的夹具,在夹具上设有第二温度监控器,所述温控板包括储液的腔体,所述控制器通过控制温控板内液体的温度控制LED灯珠芯片的温度。
作为本发明的进一步改进,温控板内设有进水管和出水管,进水管和出水管之间设有加热和制冷装置。
作为本发明的进一步改进,所述加热和制冷装置包括水箱,水箱内设有加热管和制冷管,在水箱的出水口设有第一温度监控器。
作为本发明的进一步改进,所述加热和制冷装置包括加热水箱和制冷水箱,加热水箱内设有加热管,制冷水箱内设有制冷管,加热水箱和制冷水箱的出水管设有混水阀,在温控板出水口与加热水箱和制冷水箱进水管之间设有分流阀,在混水阀的出水口设有第一温度监控器。
作为本发明的进一步改进,第二温度监控器与LED灯珠负极之间的距离小于第二温度监控器与LED灯珠正极之间的距离。
作为本发明的进一步改进,所述第二温度监控器为热电偶温度监控器。
该发明中因为温控板与夹具上LED灯珠的芯片的引脚直接接触,通过改变温控板的温度来控制LED灯珠的芯片的引脚温度,从而精确的对LED灯珠在老化过程中的LED灯珠最接近LED芯片的温度进行管控,该实验不需要在恒温箱体内进行,可直接观察LED灯珠的老化情况。
本发明还包括一种LED老化方法,包括以下步骤:
A、将LED灯珠放置到温控板上,通过通电接口对LED灯珠进行通电老化;
B、第二温度监控器监控LED灯珠负极温度与LED芯片的温度的差值是否在±A℃范围内;
C、如果LED灯珠负极温度与LED芯片的温度的差值大于设定值A℃,通过控制器控制温控板内液体降温从而使温控板降温,并通过第二温度监控器监控LED灯珠负极温度与LED芯片的温度的差值是否在±A℃范围内;
D、如果LED灯珠负极温度与LED芯片的温度的差值小于设定值A℃,通过控制器控制温控板内液体升温从而使温控板升温,并通过第二温度监控器监控LED灯珠负极温度与LED芯片的温度的差值是否在±A℃范围内;
E、保证LED灯珠负极温度与LED芯片的温度的差值在±A℃范围内,并进行持续的温控老化。
作为本发明的进一步改进,在步骤B、C、D和E中,A的取值为2。
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