[发明专利]一种测试系统及测试方法

说明书

本发明实施例涉及自动控制技术领域，公开了一种测试系统及测试方法。本发明中的测试系统包括：综合测试计算机、通用测试仪器和接口适配器；综合测试计算机产生对被测件的第一测试信号，还能产生控制指令来控制通用测试仪器产生第二测试信号；接口适配器用于进行信号调理和接口的适配，将调理后的测试信号传输给被测件；被测件接收调理后的测试信号，产生实际反馈数据传输给接口适配器；接口适配器对实际反馈数据进行调理，将调理后的实际反馈数据传输给通用测试仪器或综合测试计算机。综合测试计算机进行结果对比，并得出测试结论，生成测试报告。该测试系统实现了对被测件的自动化测试，提高了被测件的生产效率、使用稳定性和可维修性。

技术领域

本发明实施例涉及自动控制技术领域，特别涉及一种测试系统及测试方法。

背景技术

目前嵌入式设备在自动化控制、工业制造、国防建设等方面起着越来越重要的作用。而嵌入式设备的精密性、准确性和可靠性在实际应用中是很重要的。因此，在投入应用之前制造者往往需要对制造出的嵌入式设备进行测试，以检测嵌入式设备的精密性、准确性和可靠性。并且传统的对嵌入式设备的测试主要是以人工测试为主。

发明人发现现有技术中存在如下问题，随着电子技术、微电子技术和计算机技术等的发展及其在嵌入式设备上的应用，嵌入式设备的性能越来越先进，现代化程度越来越高。传统的以人工测试为主的嵌入式设备的测试已经不能满足生产的需求。并且在手动测试或半自动测试中，测试设备基本上是单个的仪器、仪表，已经不能高速、高效地解决嵌入式设备系统测试项目多、测试参数复杂的问题。并且原始测试方法的低效和不准确性影响着嵌入式设备的生产、后续的使用、故障的排查和维修过程。

发明内容

本发明实施方式的目的在于提供一种测试系统及测试方法，能够实现对被测件的自动化测试过程并得出测试报告，以快速准确的对被测件进行功能和性能的检测，提高被测件的生产效率、使用稳定性和可维修性。

为解决上述技术问题，本发明的实施方式提供了一种测试系统，包括：综合测试计算机、通用测试仪器和接口适配器；综合测试计算机用于通过内部配置的输入输出及总线接口板卡产生对被测件的第一测试信号，并将第一测试信号传输给接口适配器；综合测试计算机还用于产生控制指令，并将控制指令通过测试总线传输给通用测试仪器；

通用测试仪器用于接收控制指令，并根据控制指令产生对被测件的第二测试信号；

接口适配器用于根据第一测试信号或第二测试信号进行信号调理和接口的适配，并将调理后的第一测试信号或第二测试信号传输给被测件；其中，被测件接收调理后的第一测试信号或第二测试信号产生实际反馈数据，将实际反馈数据传输给接口适配器；

接口适配器还用于对实际反馈数据进行调理，将调理后的实际反馈数据传输给通用测试仪器，使通用测试仪器对实际反馈数据进行采集后传输给综合测试计算机，或，将调理后的实际反馈数据直接传输给综合测试计算机；

综合测试计算机还用于采集调理后的实际反馈数据，将调理后的实际反馈数据与设定的期望值进行比对得到测试结果，并根据测试结果生成测试报告。

本发明的实施方式还提供了一种测试方法，包括综合测试计算机通过内部配置的输入输出及总线接口板卡产生对被测件的第一测试信号，并将第一测试信号传输给接口适配器；综合测试计算机还用于产生控制指令，并将控制指令通过测试总线传输给通用测试仪器；

通用测试仪器根据控制指令产生对被测件的第二测试信号；

接口适配器根据第一测试信号或第二测试信号进行信号调理和接口的适配，并将调理后的第一测试信号或第二测试信号传输给被测件；其中，被测件接收调理后的第一测试信号或第二测试信号产生实际反馈数据，将实际反馈数据传输给接口适配器；