[发明专利]一种数模混合微系统ADC单元动态参数测试系统

权利要求书

1.一种数模混合微系统ADC单元动态参数测试系统，其特征在于包括包括：上位机和测试板，其中：

上位机负责对测试结果进行显示和存储；

测试板包括信号发生模块、信号调理模块、时钟产生模块、微系统ADC单元以及微系统FPGA单元；信号调理模块与信号发生模块、微系统ADC单元以及微系统FPGA单元相连；时钟产生模块与微系统ADC单元以及微系统FPGA单元相连；微系统FPGA单元通过通信接口与上位机相连；

信号发生模块使用晶体振荡器产生一个单音正弦波信号；信号调理模块对信号发生模块产生的信号进行滤波处理，产生微系统ADC单元输入信号；时钟产生模块由锁相环PLL电路产生，为微系统ADC单元及微系统FPGA单元提供时钟；微系统ADC单元采集由信号发生模块产生并由信号调理模块处理的输入信号，将输入的模拟信号转换为数字信号；微系统FPGA单元对微系统ADC单元采样输出数据进行采集、存储及处理，得出微系统ADC单元的动态性能参数，将测试结果通过USB通信接口上传至上位机进行显示及存储；

所述的微系统FPGA单元包括数据采集模块、数据存储模块、数据处理模块、过程控制模块以及通信模块；

数据采集模块采集微系统ADC单元采样输出数据并送至数据存储模块、数据处理模块，数据存储模块存储微系统ADC单元采样输出数据，数据处理模块根据微系统ADC单元采样输出数据得出微系统ADC单元的动态性能参数并送至通信模块，通信模块将微系统ADC单元的动态性能参数作为测试结果，通过USB通信接口上传至上位机进行显示及存储，过程控制模块实现对数据采集模块、数据存储模块、数据处理模块、通信模块的过程控制及调度。