[发明专利]指纹识别方法、装置及计算机可读存储介质有效
申请号: | 201711454251.7 | 申请日: | 2017-12-28 |
公开(公告)号: | CN108171165B | 公开(公告)日: | 2021-10-22 |
发明(设计)人: | 黄学斌 | 申请(专利权)人: | 北京小米移动软件有限公司 |
主分类号: | G06K9/00 | 分类号: | G06K9/00 |
代理公司: | 北京三高永信知识产权代理有限责任公司 11138 | 代理人: | 林锦澜 |
地址: | 100085 北京市海淀区清河*** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 指纹识别 方法 装置 计算机 可读 存储 介质 | ||
1.一种指纹识别方法,其特征在于,所述方法包括:
在指纹识别传感器采集到第一指纹图像后,获取预存的历史坏点个数,所述历史坏点个数为在所述指纹识别传感器采集到所述第一指纹图像之前检测得到的所述指纹识别传感器中损坏的采集模块的个数;
当所述历史坏点个数大于或等于第一预设个数阈值时,禁止对所述第一指纹图像进行匹配识别;
检测所述指纹识别传感器中损坏的采集模块的个数,得到当前坏点个数;
使用所述当前坏点个数更新所述历史坏点个数,更新后的所述历史坏点个数用于供下一次采集指纹图像后,对采集到的指纹图像是否进行匹配识别的判断;
当所述当前坏点个数小于所述第一预设个数阈值时,提示用户重新进行指纹识别。
2.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述方法还包括:
当所述当前坏点个数大于或等于所述第一预设个数阈值时,提示用户更换所述指纹识别传感器。
3.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述检测所述指纹识别传感器中损坏的采集模块的个数,得到当前坏点个数,包括:
获取历史有效检测次数,所述历史有效检测次数为在所述指纹识别传感器采集到所述第一指纹图像之前,检测到所述指纹识别传感器中损坏的采集模块的个数大于或等于所述第一预设个数阈值的次数;
当所述历史有效检测次数小于预设次数阈值时,检测所述指纹识别传感器中损坏的采集模块的个数,得到所述当前坏点个数。
4.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述当前坏点个数包括当前第一坏点个数或当前第二坏点个数,所述检测所述指纹识别传感器中损坏的采集模块的个数,得到当前坏点个数,包括:
检测所述指纹识别传感器中损坏的采集模块的个数;
当所述指纹识别传感器中损坏的采集模块的个数小于所述第一预设个数阈值时,将所述指纹识别传感器中损坏的采集模块的个数获取为所述当前第一坏点个数;
当所述指纹识别传感器中损坏的采集模块的个数大于或等于所述第一预设个数阈值时,检测所述指纹识别传感器的预设区域内损坏的采集模块的个数,将所述预设区域内损坏的采集模块的个数获取为所述当前第二坏点个数。
5.根据权利要求4所述的方法,其特征在于,所述使用所述当前坏点个数更新所述历史坏点个数,包括:
使用所述当前第一坏点个数或所述当前第二坏点个数更新所述历史坏点个数。
6.根据权利要求4所述的方法,其特征在于,所述预设区域为采集到指纹图像的概率大于预设概率阈值的采集模块所在的区域。
7.根据权利要求5所述的方法,其特征在于,所述方法还包括:
在使用所述当前第二坏点个数更新所述历史坏点个数之后,当所述指纹识别传感器采集到第二指纹图像,且,更新后的所述历史坏点个数小于第二预设个数阈值时,从所述第二指纹图像中获取所述预设区域内的采集模块采集的指纹图像区域;
对所述指纹图像区域进行匹配识别。
8.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述方法还包括:
在禁止对所述第一指纹图像进行匹配识别后,检测并存储所述指纹识别传感器中损坏的采集模块的位置。
9.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述检测所述指纹识别传感器中损坏的采集模块的个数,得到当前坏点个数,包括:
在检测到手指离开后,为所述指纹识别传感器中的每个所述采集模块施加预设电压;
获取每个所述采集模块在施加所述预设电压后的电流值;
当所述指纹识别传感器中的某采集模块在施加所述预设电压后的所述电流值满足预设条件时,将所述某采集模块确定为损坏的采集模块;
获取所述指纹识别传感器中损坏的采集模块的个数,以得到所述当前坏点个数。
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