[发明专利]基于磁场的电流测量有效
| 申请号: | 201711452862.8 | 申请日: | 2017-12-27 |
| 公开(公告)号: | CN108333409B | 公开(公告)日: | 2021-09-14 |
| 发明(设计)人: | A·波利;斯里纳特·拉马斯瓦米;巴赫尔·S·哈龙 | 申请(专利权)人: | 德州仪器公司 |
| 主分类号: | G01R19/00 | 分类号: | G01R19/00;G01R33/02 |
| 代理公司: | 北京律盟知识产权代理有限责任公司 11287 | 代理人: | 林斯凯 |
| 地址: | 美国德*** | 国省代码: | 暂无信息 |
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| 摘要: | |||
| 搜索关键词: | 基于 磁场 电流 测量 | ||
1.一种用于电流测量的系统,其包括:
第一组磁场传感器,其具有第一输出,所述第一组磁场传感器经定位并且经配置以产生表示通过第一导体的第一电流的第一磁场测量值、并且在所述第一输出处提供所述第一磁场测量值;
第二组磁场传感器,其具有第二输出,所述第二组磁场传感器经定位并且经配置以产生表示通过所述第一导体的所述第一电流的第二磁场测量值、且产生表示通过第二导体的第二电流的第三磁场测量值、并且在所述第二输出处提供所述第二磁场测量值和所述第三磁场测量值;
第三组磁场传感器,其具有第三输出,所述第三组磁场传感器经定位并且经配置以产生表示通过所述第二导体的所述第二电流的第四磁场测量值、并且在所述第三输出处提供所述第四磁场测量值;及
电流测量处理器,其耦合到所述第一输出、所述第二输出和所述第三输出,所述电流测量处理器经配置以基于所述第一磁场测量值和所述第二磁场测量值的泰勒级数展开来计算所述第一电流的振幅。
2.根据权利要求1所述的系统,其中所述电流测量处理器经配置以基于下列内容计算所述第一电流的所述振幅和所述第二电流的振幅:
所述第一磁场测量值、所述第二磁场测量值、所述第三磁场测量值和所述第四磁场测量值的泰勒级数展开以减轻与外部磁场相关联的干扰项;以及
所述第一组磁场传感器、所述第二组磁场传感器和所述第三组磁场传感器的空间坐标。
3.根据权利要求1所述的系统,其中所述第一组磁场传感器包含一对磁场传感器,所述一对磁场传感器相对于与所述第一导体的横截面相交的轴以等距且对称的布置而被定位。
4.根据权利要求1所述的系统,其中所述第一组磁场传感器包含一对磁场传感器,所述一对磁场传感器经配置为一对磁通门传感器。
5.根据权利要求3所述的系统,其中所述一对是第一对,并且:
所述第二组磁场传感器包含第二对磁场传感器,所述第二对磁场传感器相对于与所述第一导体和所述第二导体的横截面相交的轴以等距且对称的布置而被定位;及
所述第三组磁场传感器包含第三对磁场传感器,所述第三对磁场传感器相对于所述第二导体的横截面相交的轴以等距且对称的布置而被定位。
6.根据权利要求1所述的系统,其中所述第一导体和所述第二导体被布置为使交流电“AC”流过所述第一导体和所述第二导体。
7.根据权利要求1所述的系统,其中所述第一磁场测量值表示所述第一导体的横截面处的所述第一电流,且所述第二磁场测量值表示所述第一导体的所述横截面处的所述第一电流。
8.一种用于电流测量的方法,其包括:
相对于第一导体定位第一组磁场传感器;
相对于所述第一导体和第二导体定位第二组磁场传感器,所述第一导体被布置为在通过所述第一导体的第一方向上传导第一电流,且所述第二导体被布置为在通过所述第二导体的第二方向上传导第二电流;
相对于所述第二导体定位第三组磁场传感器;
从所述第一组磁场传感器获得表示通过所述第一导体的所述第一电流的第一磁场测量值;
从所述第二组磁场传感器获得表示通过所述第一导体的所述第一电流的第二磁场测量值,且获得表示通过所述第二导体的所述第二电流的第三磁场测量值;
从所述第三组磁场传感器获得表示通过所述第二导体的所述第二电流的第四磁场测量值;且
基于所述第一磁场测量值和所述第二磁场测量值的泰勒级数展开来计算所述第一电流的振幅,以消除与外部磁场相关联的干扰项。
9.根据权利要求8所述的方法,其中定位所述第一组磁场传感器包括相对于与所述第一导体的横截面相交的轴以等距且对称的布置而定位一对磁场传感器。
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