[发明专利]LED寿命测试系统

说明书

本发明涉及一种LED寿命测试系统，包括至少一个LED固定装置、控制器、数据采集模块、加热装置、可调电流源、可移动平台以及设于可移动平台上的光检测装置，每一个LED固定装置用于固定至少两个待测试LED样品；加热装置用于加热待测试LED样品；可调电流源用于为待测试LED样品提供测试电流；在加热装置加热以及调电流源提供测试电流作用完成时及当待测试LED样品的温度达到室温时，控制器控制光检测装置检测待测试LED样品的光参数以及控制数据采集模块采集待测试LED样品的电参数；控制器对光参数和电参数进行分析，得到待测试LED样品的寿命测试结果。上述的LED寿命测试系统，同时对多个待测试LED样品进行测试。

技术领域

本发明涉及照明技术领域，特别是涉及一种LED寿命测试系统。

背景技术

目前，LED以其节能性、环保性、长寿性以及高可靠性等特点在显示屏背光、夜景照明等领域得到了广泛应用。然而，LED在长期使用后，其亮度会降低，出现光衰等问题，从而影响正常使用。而且，LED在工作过程中由于环境的不稳定性，也会导致LED寿命的降低。为了保证LED的正常使用，对LED进行寿命检测就显得尤为重要。

目前，通常采用LED寿命检测系统来对LED进行寿命加速测试，从而对LED进行寿命预测。LED寿命检测系统主要分为离线LED寿命检测系统和在线LED寿命检测系统。而目前大部是采用的是离线LED进行寿命检测，检测过程复杂不便；而在线的LED寿命检测系统往往只能针对单个LED进行测试，测试过程操作复杂。

发明内容

基于此，有必要针对目前的在线LED寿命检测系统往往只能针对单个LED进行测试，测试过程操作复杂的问题，提供一种LED寿命测试系统。

一种LED寿命测试系统，包括：至少一个LED固定装置、控制器、数据采集模块、加热装置、可调电流源、可移动平台以及设置于所述可移动平台上的光检测装置，其中每一个所述LED固定装置用于固定至少两个待测试LED样品，；

所述加热装置用于加热所述待测试LED样品；

所述可调电流源用于为所述待测试LED样品提供测试电流；

所述控制器控制所述加热装置根据目标加热温度对每一个所述待测试LED样品进行加热直至达到预设的加热时间；且所述控制器控制所述可调电流源根据目标测试电流对每一个所述待测试LED样品提供测试电流直至达到预设的电流作用时间；

在加热以及所述测试电流作用完成时，所述控制器控制所述采集模块采集每一个所述待测试LED样品的温度，当每一个所述待测试LED样品的温度达到室温时，所述控制器控制所述可移动平台运动，所述可移动平台带动所述光检测装置移动至目标检测位置来检测每一个所述待测试LED样品的光参数；

所述控制器控制所述数据采集模块采集每一个所述待测试LED样品的电参数；

所述控制器将每一个所述光参数和每一个所述待测试LED样品的电参数进行分析，得到每一个所述待测试LED样品的寿命测试结果。

上述的LED寿命测试系统，包括至少一个LED固定装置(其中一个LED固定装置上至少设置两个待测试LED样品)、控制器、数据采集模块、加热装置、可调电流源、可移动平台和设置于可移动平台上的光检测装置，加热装置和可调电流源对LED固定装置进行老化条件设置并点亮LED固定装置，在LED固定装置点亮时间达到预设时间时，停止老化试验，在LED固定装置中的待测试LED样品温度达到温室时，控制器控制可移动平台移动移动，使得光检测装置到达目标检测位置，从而来检测LED固定装置中每一个待测试LED样品的光参数；同时，控制器控制数据采集模块采集每一个待测试LED样品的电参数，然后控制器对采集的每一个光参数和电参数进行分析，从而得到每一个待测试LED样品的寿命测试结果。上述的LED寿命测试系统，可以同时对多个待测试LED样品进行测试，并且测试过程非常简单方便，能快速得到每个待测试LED样品的寿命测试结果。