[发明专利]一种电路图迁移方法和装置有效

专利信息
申请号: 201711449231.0 申请日: 2017-12-27
公开(公告)号: CN108170953B 公开(公告)日: 2021-07-13
发明(设计)人: 高立博;卜建辉;王成成;罗家俊;韩郑生 申请(专利权)人: 中国科学院微电子研究所
主分类号: G06F30/33 分类号: G06F30/33
代理公司: 北京华沛德权律师事务所 11302 代理人: 房德权
地址: 100029 *** 国省代码: 北京;11
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摘要:
搜索关键词: 一种 电路图 迁移 方法 装置
【说明书】:

发明提供了一种电路图迁移方法和装置,涉及信息处理技术领域,所述方法包括:通过所述电路图导出待处理的skill文本;遍历所述待处理的skill文本中的器件实例,并将所述器件实例与配置表来源项进行匹配;根据所述配置表将匹配的实例替换为目标项指定的器件实例;对目标项指定的器件实例进行参数配置;参数配置完成后,导回所述skill文本中,生成新的电路图。解决了现有技术的电路迁移中器件无法快速便捷的被正确替换,其参数也无法自由设定的技术问题。

技术领域

本发明涉及信息处理技术领域,尤其涉及一种电路图迁移方法和装置。

背景技术

电路图设计是设计流程中的重要一步,随着工艺技术的不断改进与新的工艺技术的被开发,集成电路设计使用新的工艺技术常常是必要的。考虑到芯片规模和设计周期进度的要求,研究电路图从原有工艺技术迁移到一个新的工艺技术的方法很有重要性,通过加快电路图的迁移,提高电路图设计的效率,进而影响着芯片整体的开发的进度,芯片的成本以及面市时间。

但是在现有技术的电路迁移中器件无法快速便捷的被正确替换,其参数也无法自由设定。

发明内容

本发明实施例提供了一种电路图迁移方法和装置,解决了现有技术的电路迁移中器件无法快速便捷的被正确替换,其参数也无法自由设定的技术问题。

鉴于上述问题,提出了本申请实施例以便提供一种电路图迁移方法和装置。

第一方面,本发明提供了一种电路图迁移方法,所述方法包括:通过所述电路图导出待处理的skill文本;遍历所述待处理的skill文本中的器件实例,并将所述器件实例与配置表来源项进行匹配;根据所述配置表将匹配的实例替换为目标项指定的器件实例;对目标项指定的器件实例进行参数配置;参数配置完成后,导回所述skill文本中,生成新的电路图。

优选的,所述对目标项指定的器件实例进行参数配置,还包括:当器件实例的参数直接继承或依赖于原参数时,按照所述配置表的参数映射列表映射参数。

优选的,所述对目标项指定的器件实例进行参数配置,还包括:当器件实例的参数不依赖于原参数时,参考配置表的添加参数属性项为参数赋值。

优选的,所述方法还包括:所述skill文本的转换由perl代码实现。

优选的,所述将所述器件实例与配置表来源项进行匹配,还包括:匹配时,采用库名和/或单元名和/或符号视图的基础上添加匹配参数值的方式予以匹配。

优选的,所述方法还包括:使用dbWriteSkill函数从所述电路图中导出skill文本。

第二方面,本发明提供了一种电路图迁移装置,所述装置包括:

第一导出单元,所述第一导出单元用于通过所述电路图导出待处理的skill文本;

第一匹配单元,所述第一匹配单元用于遍历所述待处理的skill文本中的器件实例,并将所述器件实例与配置表来源项进行匹配;

第一替换单元,所述第一替换单元用于根据所述配置表将匹配的实例替换为目标项指定的器件实例;

第一配置单元,所述第一配置单元用于对目标项指定的器件实例进行参数配置;

第一生成单元,所述第一生成单元用于参数配置完成后,导回所述skill文本中,生成新的电路图。

优选的,所述装置还包括:

第一映射单元,所述第一映射单元用于当器件实例的参数直接继承或依赖于原参数时,按照所述配置表的参数映射列表映射参数。

优选的,所述装置还包括:

第一属性单元,所述第一属性单元用于当器件实例的参数不依赖于原参数时,参考配置表的添加参数属性项为参数赋值。

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