[发明专利]产品寿命分析方法及终端设备

权利要求书

1.一种产品寿命分析方法，其特征在于，包括：

获取产品在预设加速寿命试验条件下的第一试验数据，以及产品在自然贮存条件下的第二试验数据；所述第一试验数据为无失效数据；所述第二试验数据为产品失效时对应的时间数据；

根据所述预设加速寿命试验条件和所述自然贮存条件，将所述第一试验数据转化为在所述自然贮存条件下的第三试验数据；所述第三试验数据为定时截尾数据；

根据所述第二试验数据和所述第三试验数据，通过极小卡方估计方法对产品寿命进行分析；

所述根据所述预设加速寿命试验条件和所述自然贮存条件，将所述第一试验数据转化为在所述自然贮存条件下的第三试验数据，具体为：

根据所述预设加速寿命试验条件和所述自然贮存条件，通过多源数据融合的方法将所述第一试验数据转化为在所述自然贮存条件下的第三试验数据；

其中，产品寿命服从威布尔分布和I型极大值分布；所述根据所述预设加速寿命试验条件和所述自然贮存条件，通过多源数据融合的方法将所述第一试验数据转化为在所述自然贮存条件下的第三试验数据，过程为：数据属于成败型不完全失效数据，数据类型可以等效如下：

记t＝(t₁,…,t_k)为检测时间点，在贮存了时间t_i之后，抽取n_i件产品进行试验，发现X_i件失效，从而得到数据：(t_i,n_i,X_i),i＝1,2,…,k，其中，0t₁t₂…t_k，各次试验相互独立；

设预设加速寿命试验条件对应k个应力S₁,S₂,…,S_k，设S₀S₁S₂…S_k，其中S₀为自然贮存对应的应力水平，在应力S_i下共有r_i个产品失效，失效时间分别为：τ_i为S_i下的截尾时间，i＝1,2,…,k；

记试验样本总数为n，失效样本总数为到达试验截尾时刻τ_k仍未失效的样本数为n-r，属于定时截尾型数据；

设产品寿命T的分布函数为F(t；θ)，其中θ是未知参数；设g(θ)是θ的广义实值函数；若在试验中未发生失效，n个产品的截尾试验时间依次为t₁,t₂,…,t_n，则根据可靠度函数R(t；θ)可得到无故障数据情形下的似然函数为：

对于给定的n个截尾试验时间t₁,t₂,…,t_n，g(θ)的1-α置信水平的最优正则置信下限y^*(Z⁰)存在，且其中Θ指θ的取值空间，α为显著性水平，Z⁰为无失效数据，数学形式为(t₁,0,t₂,0,…t_n,0)。