[发明专利]多模介质滤波器及其调试方法

权利要求书

1.一种多模介质滤波器的调试方法，其特征在于，所述多模介质滤波器包括至少一个多模介质谐振器，所述多模介质谐振器包括至少两个谐振模式，各谐振模式在互为正交的基准方向上形成，所述调试方法包括：

所述多模介质谐振器在各所述谐振模式对应的所述基准方向上均开设有盲孔，并在各所述盲孔内分别填充介质；

通过调整所述介质填充至所述盲孔内的长度和/或通过调整所述介质的介电常数，以改变所述盲孔内电磁场的边界条件，调节所述多模介质谐振器在各所述谐振模式下的谐振频率。

2.根据权利要求1所述的多模介质滤波器的调试方法，其特征在于，通过调整所述介质填充至所述盲孔内的长度和/或通过调整所述介质的介电常数，调节所述多模介质谐振器在各所述谐振模式下的谐振频率，具体是：

选择介电常数与所述多模介质谐振器相同或者不同的介质填充至所述盲孔内，通过调整所述介质填充至所述盲孔内的长度，调节所述多模介质谐振器在各所述谐振模式下的谐振频率；

或者，

通过将不同介电常数的介质分别填充至所述盲孔内或将不同介电常数的介质组合填充至所述盲孔内，调节所述多模介质谐振器在各所述谐振模式下的谐振频率；

或者，

选择介电常数与所述多模介质谐振器不同的介质填充至所述盲孔内，通过调整所述介质的介电常数以及调整所述介质填充至所述盲孔内的长度，调节所述多模介质谐振器在各所述谐振模式下的谐振频率。

3.根据权利要求1所述的多模介质滤波器的调试方法，其特征在于，调整所述介质填充至所述盲孔内的长度，包括：

所述介质由所述盲孔底部朝所述盲孔开口端填充，调整所述介质在所述盲孔内的长度；

所述介质由所述盲孔开口端朝所述盲孔底部填充，调整所述介质在所述盲孔内的长度。

4.根据权利要求1-3任一项所述的多模介质滤波器的调试方法，其特征在于，所述盲孔设置在所述多模介质谐振器相应谐振模式下的电场或者磁场最强处。

5.一种多模介质滤波器，其特征在于，包括：

多模介质谐振器，所述多模介质谐振器包括至少两个谐振模式，各谐振模式在互为正交的基准方向上形成，所述多模介质谐振器在各所述谐振模式对应的基准方向上均开设有盲孔；

介质，所述介质填充于所述盲孔内，所述介质在所述盲孔内的长度以及所述介质的介电常数根据所述多模介质谐振器在相应所述谐振模式下的所需谐振频率设定。

6.根据权利要求5所述的多模介质滤波器，其特征在于，所述盲孔的直径为2mm～4mm。

7.根据权利要求5所述的多模介质滤波器，其特征在于，所述盲孔呈柱状或者U形槽状或者矩形槽状，所述介质也呈与所述盲孔匹配的柱状或U形槽状或者矩形槽状。

8.根据权利要求5所述的多模介质滤波器，其特征在于，所述介质为介质调谐棒，所述介质调谐棒用于填充在所述盲孔内；

或者，

所述介质为介质柱，所述介质柱的一端设有与之相连的金属盘，所述介质柱的另一端用于填充于所述盲孔内。

9.根据权利要求8所述的多模介质滤波器，其特征在于，所述盲孔的深度等于或大于所述介质调谐棒的长度，所述介质调谐棒与所述盲孔过盈配合；

或者，

所述盲孔的深度等于或大于所述介质柱的长度，所述介质柱的直径小于或等于所述盲孔的直径。

10.根据权利要求8所述的多模介质滤波器，其特征在于，所述金属盘能与所述多模介质谐振器通过焊接固定。

11.根据权利要求8所述的多模介质滤波器，其特征在于，所述介质调谐棒为陶瓷介质或PEI或聚四氟乙烯，所述介质柱为陶瓷介质或PEI或聚四氟乙烯。

12.根据权利要求5-11任一项所述的多模介质滤波器，其特征在于，所述介质的介电常数与所述多模介质谐振器相同或不同。