[发明专利]一种晶态WC硬质合金薄膜及其缓冲层技术室温生长方法有效
申请号: | 201711434850.2 | 申请日: | 2017-12-26 |
公开(公告)号: | CN108193178B | 公开(公告)日: | 2019-10-29 |
发明(设计)人: | 吕建国;胡睿 | 申请(专利权)人: | 浙江大学 |
主分类号: | C23C14/35 | 分类号: | C23C14/35;C23C14/06;C23C14/02 |
代理公司: | 杭州宇信知识产权代理事务所(普通合伙) 33231 | 代理人: | 梁群兰 |
地址: | 310058 浙江*** | 国省代码: | 浙江;33 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 薄膜 生长 缓冲层技术 硬质合金 靶材 汞灯 附着力 压强 等离子体气氛 等离子体增强 混合工作气体 射频磁控溅射 六方相结构 原子百分比 采用直流 磁控溅射 工作气体 晶态薄膜 显微硬度 缓冲层 波长 衬底 基底 晶态 种晶 合金 照射 金属 | ||
本发明公开了一种缓冲层技术室温生长晶态WC硬质合金薄膜的方法,步骤包括1)采用直流磁控溅射方法,以W金属为靶材,Ar为工作气体;W薄膜在Ar等离子体气氛中室温生长,形成缓冲层W薄膜;2)在W薄膜生长结束后,维持Ar的通入和压强不变;改用射频磁控溅射方式,WC合金为靶材;通入CH4气体,形成Ar‑CH4混合工作气体;同时采用汞灯照射衬底,汞灯波长为185 nm和254 nm;室温生长WC薄膜。本发明利用W缓冲层技术、等离子体增强和紫外增强的三重作用,有效提高了室温生长WC薄膜的结晶质量,制得的WC薄膜为晶态薄膜,具有六方相结构;W:C的原子百分比为51.3:48.7~50.4:49.6;其显微硬度高于21GPa,与基底的附着力高于32N。
技术领域
本发明属于硬质合金薄膜技术领域,尤其涉及一种晶态WC硬质合金薄膜及其生长方法。
背景技术
碳化钨(WC)是一种典型的硬质合金材料,为简单六方结构,六方WC直到3049K的温度下都是稳定的。WC具有非常优异的物理和化学性能,如高硬度,高耐磨,热稳定性和化学稳定性好,抗氧化性好,热膨胀系数低,弹性模量高,具有一定程度的塑性,并且WC被大多数粘结相浸润的性能优于其它碳化物,且比其它碳化物韧性好。此外,WC还具有高导热性和高导电性,有利于切削应用。鉴于上述优点,WC作为一种硬质耐磨涂层,广泛应用于国防军工、航空航天、冶金、石化、电力、交通运输、水利、海洋开发等军事和民用工业领域,成为解决重要零部件耐磨耐蚀与防护的关键技术。
目前,WC涂层的主流制备技术是热喷涂方法,包括:等离子体喷涂、火焰喷涂、电弧喷涂、爆炸喷涂和超音速喷涂等。此外,物理气相沉积(PVD)作为一类新型的WC涂层技术也日益受到重视,其中最为典型的是磁控溅射。磁控溅射广泛应用于各工业领域,最近几年越来越多地被用于制备WC薄膜,具有较低的沉积温度和较高的沉积速率,所形成的为非晶或晶态薄膜,薄膜致密且厚度可控,可精确控制在纳米(nm)量级。因而,磁控溅射制备的WC薄膜,除传统的应用领域外,还可应用于微型产品(如集成电路的微型钻头)和小而薄的零件,而且在微电子领域也有广阔的应用前景(如微电子器件的扩散阻挡层、透明导电薄膜等),成为WC薄膜技术研究的热点。
磁控溅射制备的WC薄膜,为了提高其物理性能,通常要求材料为晶态物质。与非晶态WC相比,晶态WC具有更高的硬度和耐磨性,抗腐蚀性能好,而且晶态WC导热和导电特性显著优于非晶态WC,因而在实际应用中一般均要求WC涂层为结晶状态。目前磁控溅射生长晶态WC薄膜的方式主要有两种:直接晶态生长;非晶态生长再经热处理转化为晶态。
(1)直接晶态生长。如果直接生长晶态WC薄膜,温度通常要在600℃以上,这一温度对基底的限制性非常大,特别是当PVD生长过程较长(如几小时)的时候更是如此。因而,降低生长温度是人们迫切的需求。2003年,Palmquist等人 [J. P. Palmquist, Z. Czigany,L. Hultman, and U. Jansson, Epitaxy growth of tungsten carbide films usingC60 as carbon precursor, J. Crystal Growth 259, 12-17 (2003)] 以C60为碳源进行蒸发,用纯W靶溅射,在400℃的较低温度下直接溅射生长纳米WC薄膜,无需后续热处理就可得到晶态物质,在低温生长上有了突破性的进展,但没有后续的报道。目前为止也没有其它更低温度直接生长晶态WC薄膜的报道。
(2)非晶态生长再经热处理转化为晶态。目前晶态WC薄膜生长一般选用这种方法,退火温度均在800℃以内。一般的工艺为:在常规的氩气或氢气保护下800℃退火处理,使WC晶化,但退火过程中薄膜成分会发生变化,导致表层C损耗、W2C生成和金属W的析出,为解决这一问题,可用丙烷和氢气的混合气体作为退火过程中的工作气体,补充C的损耗,具有较好的效果。采用这种方法,WC晶化所需的温度仍然要高于800℃,虽然退火过程要比生长过程短(约几分钟),对基底的损伤可能并不明显,但对于小而薄的零件,这种工艺的可行性仍不能达到要求。
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