[发明专利]图像处理方法、装置及计算机可读存储介质有效
申请号: | 201711434581.X | 申请日: | 2017-12-26 |
公开(公告)号: | CN109978809B | 公开(公告)日: | 2022-02-22 |
发明(设计)人: | 王琪;刘必成;徐光明 | 申请(专利权)人: | 同方威视技术股份有限公司 |
主分类号: | G06T7/00 | 分类号: | G06T7/00 |
代理公司: | 中国贸促会专利商标事务所有限公司 11038 | 代理人: | 张海强 |
地址: | 100084 北京*** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 图像 处理 方法 装置 计算机 可读 存储 介质 | ||
1.一种图像处理方法,包括:
获取待处理的第一欠采样图像,所述第一欠采样图像根据如下方式获得:在第一被检测物体沿着第一方向运动时,第一发射器发射的X射线穿透所述第一被检测物体沿着第二方向的截面后,由与所述第一发射器相对设置的第一组探测器接收,从而生成所述第一欠采样图像,其中所述第一方向与所述第二方向垂直,所述第一组探测器包括一排或多排第一探测器;
根据欠采样图像与原始图像之间的映射关系,将所述第一欠采样图像重建为对应的第一原始图像,其中所述映射关系是以第二欠采样图像及其对应的第二原始图像为训练样本对机器学习模型进行训练得到的,所述第二原始图像根据如下方式获得:在第二被检测物体沿着第三方向运动时,第二发射器发射的X射线穿透所述第二被检测物体沿着第四方向的截面后,由与所述第二发射器相对设置的第二组探测器接收,从而生成所述第二原始图像,其中所述第三方向与所述第四方向垂直,所述第二组探测器包括一排或多排第二探测器。
2.根据权利要求1所述的方法,还包括:
对正常采样的第二原始图像进行下采样,以得到所述第二欠采样图像;
以所述第二欠采样图像和所述第二原始图像为训练样本对所述机器学习模型进行训练,以得到所述映射关系。
3.根据权利要求2所述的方法,所述对正常采样的第二原始图像进行下采样,以得到所述第二欠采样图像包括:
对正常采样的第二原始图像进行下采样,以得到第二下采样图像;
对所述第二下采样图像进行上采样,以得到与所述第二原始图像的尺寸相同的第二上采样图像,以所述第二上采样图像作为所述第二欠采样图像。
4.根据权利要求3所述的方法,其中,所述根据欠采样图像与原始图像的映射关系,将所述第一欠采样图像重建为对应的第一原始图像包括:
对所述第一欠采样图像进行上采样,以得到与所述第一原始图像的尺寸相同的第一上采样图像,以所述第一上采样图像作为第三欠采样图像;
根据所述映射关系将所述第三欠采样图像重建为对应的第三原始图像,以所述第三原始图像作为所述第一原始图像。
5.根据权利要求3所述的方法,其中,所述以所述第二欠采样图像和所述第二原始图像为训练样本对所述机器学习模型进行训练包括:
将所述第二欠采样图像分割成多个欠采样图像块;
将所述第二原始图像分割成多个原始图像块,一个原始图像块对应一个欠采样图像块,每个原始图像块与对应的欠采样图像块的尺寸相同;
以所述多个欠采样图像块和所述多个原始图像块为训练样本对机器学习模型进行训练。
6.根据权利要求5所述的方法,其中,所述以所述多个欠采样图像块和所述多个原始图像块为训练样本对机器学习模型进行训练包括:
对所述多个欠采样图像块中的每个欠采样图像块进行处理,以确定每个欠采样图像块与对应的原始图像块之间的差异图像块;
将所述差异图像块与对应的欠采样图像块相加,以得到预测图像块;
根据所述预测图像块与所述原始图像块对所述机器学习模型进行优化,直到所述预测图像块与所述原始图像块之间的差异满足预设条件。
7.根据权利要求2所述的方法,其中,所述对正常采样的第二原始图像进行下采样包括:
对所述第二原始图像进行扩增,以得到扩增图像;
对所述第二原始图像和所述扩增图像进行下采样,以得到所述第二欠采样图像。
8.根据权利要求3所述的方法,其中,
所述第一欠采样图像在所述第一方向上的尺寸小于所述第一原始图像在所述第一方向上的尺寸;
所述第二下采样图像在所述第三方向上的尺寸小于所述第二原始图像在所述第三方向上的尺寸。
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