[发明专利]一种测试系统及测试方法有效
申请号: | 201711433314.0 | 申请日: | 2017-12-26 |
公开(公告)号: | CN108319549B | 公开(公告)日: | 2021-09-14 |
发明(设计)人: | 曹文天;邹毅军;李鸿彪 | 申请(专利权)人: | 上海科梁信息科技股份有限公司 |
主分类号: | G06F11/36 | 分类号: | G06F11/36 |
代理公司: | 上海晨皓知识产权代理事务所(普通合伙) 31260 | 代理人: | 成丽杰 |
地址: | 200233 上海市*** | 国省代码: | 上海;31 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 测试 系统 方法 | ||
本发明实施例涉及自动控制技术领域,公开了一种测试系统及测试方法。本发明中的测试系统包括:测试主机分系统、实时测试仿真计算分系统和信号接口分系统;测试主机分系统生成被测件外围环境模型和测试代码;实时测试仿真计算分系统运行测试代码和外围环境模型,产生对被测件的测试信号,并传输给信号接口分系统;信号接口分系统根据测试信号进行信号调理,再将调理后的测试信号传输给被测件;被测件根据调理后的测试信号产生实际反馈数据,并将实际反馈数据传输给测试主机分系统,测试主机分系统形成测试报告。该测试系统能够实现实时动态的闭环测试,并且具有通用性,能够自动生成测试代码无需编写程序,减小了测试的时间和成本。
技术领域
本发明实施例涉及自动控制技术领域,特别涉及一种测试系统及测试方法。
背景技术
嵌入式控制器通常针对特殊领域的对象进行控制,其功能失效可能会导致灾难性的后果或重大经济损失。因此,嵌入式系统控制器对可靠性的要求非常高。这就要求对嵌入式控制器进行严格的测试、确认和验证,以提高产品的可靠性。在嵌入式控制器生产、出厂及维护阶段需要对其进行大量、严格的软硬件测试。因此组建方便、功能齐全的测试系统成为了嵌入式控制器生产、科研和保障的必要条件。
发明人发现现有技术中至少存在如下问题:在现有的嵌入式控制器生产、科研和保障阶段的测试中所使用的嵌入式控制器测试系统,通常是基于windows系统,是非实时操作系统,嵌入式控制器软件的有些动态特性无法测试;并且现有测试系统通常是针对某种型号的软件开发的专用的测试系统,测试软件不通用,测试人员无法修改测试软件,或修改测试软件较为困难;另外,现有测试系统通常只针对某种功能进行测试,无法做到测试功能全覆盖,需要使用多套测试设备进行测试。
发明内容
本发明实施方式的目的在于提供一种测试系统及测试方法,能够实现实时动态的闭环测试,并且具有通用性,能够自动生成测试代码无需编写程序,减小了测试的时间和成本。
为解决上述技术问题,本发明的实施方式提供了一种测试系统,包括:测试主机分系统、实时测试仿真计算分系统和信号接口分系统;测试主机分系统生成被测件外围环境模型和测试代码,并将外围环境模型和代码通过以太网传输到实时测试仿真计算分系统;实时测试仿真计算分系统运行测试代码与外围环境模型,由测试代码与被测件外围环境模型产生对被测件的测试信号,并通过第一输入/输出及总线接口将测试信号传输给信号接口分系统;信号接口分系统根据测试信号进行信号调理,并通过第二输入/输出及总线接口将调理后的测试信号传输给被测件;被测件接收调理后的测试信号,并根据测试信号产生实际反馈数据,其中,实际反馈数据经信号接口分系统调理后由实时测试仿真计算分系统进行采集,并通过以太网发送给测试主机分系统;测试测试主机分系统将实际反馈数据与设定的期望值进行比对得到测试结果,并根据测试结果形成测试报告。
本发明的实施方式还提供了一种测试方法,包括:测试主机分系统生成被测件外围环境模型和测试代码,并将模型和代码通过以太网传输到实时测试仿真计算分系统。实时测试仿真计算分系统运行测试代码与外围环境模型,由测试代码与被测件外围环境模型产生对被测件的测试信号,并通过第一输入/输出及总线接口将测试信号传输给信号接口分系统。信号接口分系统根据测试信号进行信号调理,并通过第二输入/输出及总线接口将调理后的测试信号传输给被测件。被测件接收调理后的测试信号,并根据测试信号产生实际反馈数据,其中,实际反馈数据经信号接口分系统调理后由实时测试仿真计算分系统进行采集,并通过以太网发送给测试主机分系统。测试测试主机分系统将实际反馈数据与设定的期望值进行比对得到测试结果,并根据测试结果形成测试报告。
本发明实施方式相对于现有技术而言,该测试系统能够对被测件进行实时动态的测试,并将对被测件的测试结果返回给测试主机分系统,并以测试报告的形式提供给用户,因此是一个闭环测试过程。并且测试过程中能够自动生成测试代码,用户无需编程,因此用户只需要关注测试本身,无需编写代码,测试开发时间和成本大大降低。用户可以根据需要生成测试外围环境模型,针对被测件的不同功能进行测试,无需根据不同功能使用不同的测试设备,因此更具有通用性。
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