[发明专利]一种三轴转台与球面扫描装置空间对准的调整系统及方法有效
| 申请号: | 201711432099.2 | 申请日: | 2017-12-26 |
| 公开(公告)号: | CN108196133B | 公开(公告)日: | 2021-03-16 |
| 发明(设计)人: | 张斌;吴翔;寇鹏;王鲲飞;孙雨 | 申请(专利权)人: | 北京无线电计量测试研究所 |
| 主分类号: | G01R29/08 | 分类号: | G01R29/08;G01R29/10 |
| 代理公司: | 北京正理专利代理有限公司 11257 | 代理人: | 付生辉 |
| 地址: | 100854 北京*** | 国省代码: | 北京;11 |
| 权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索关键词: | 一种 转台 球面 扫描 装置 空间 对准 调整 系统 方法 | ||
1.一种三轴转台与球面扫描装置空间对准的调整方法,其特征在于,包括:
S1:确定微波暗室中用于三轴转台与球面扫描装置固定的第一基座和第二基座的中线位置并固定三轴转台与球面扫描装置;
S2:将正交点标靶工装固定在三轴转台上,使正交点标靶工装标靶的中心与所述三轴转台的三个轴的交点重合,将激光准直器固定在球面扫描装置上,使激光准直器出射的激光束落点到正交点标靶工装的标靶上;
S3:将激光准直器沿球面扫描装置的扫描方向做往复运动并同时调整球面扫描装置的位置,当激光束在标靶上的落点位置不随球面扫描装置位置的变化而变化,则调整完成。
2.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述S1包括:
S11:确定第一基座和第二基座的位置;
S12:通过测量确定第一基座的中线,使中线的延长线经过第二基座;
S13:将多功能激光水平仪固定在第一基座上,使多功能激光水平仪发射的激光平面光幕与所述中线对齐,激光平面光幕与第二基座的相交线即为第二基座的中线;
S14:将三轴转台与球面扫描装置分别固定在第一基座和第二基座上。
3.根据权利要求2所述的方法,其特征在于,所述S1进一步包括:
S15:通过框式水平仪将三轴转台调整至水平。
4.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述S2包括:
S21:确定球面扫描装置上动部件的初始零位置;
S22:将正交点标靶工装固定在三轴转台上,使正交点标靶工装标靶的中心与所述三轴转台的三个轴的交点重合,将激光准直器安装在球面扫描装置的初始零位置;
S23:调整球面扫描装置的位置,使激光准直器出射的激光束落点到正交点标靶工装上的标靶中心。
5.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述调整球面扫描装置的位置具体包括:
当动部件带动激光准直器沿扫描方向做往复运动时:
当激光束落点的变化方向与动部件运动方向相同,表示球面扫描装置和三轴转台之间的距离小于预设指标值,则增加球面扫描装置与三轴转台的距离;
当激光束落点的变化方向与动部件运动方向相反,表示球面扫描装置和三轴转台之间的距离大于预设指标值,则减小球面扫描装置与三轴转台的距离;
当使激光束在标靶上的落点位置不随球面扫描装置位置的变化而变化,则球面扫描装置和三轴转台之间的距离等于预设指标值,调整完成。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于北京无线电计量测试研究所,未经北京无线电计量测试研究所许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/201711432099.2/1.html,转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇:系统内电磁兼容性评估方法
- 下一篇:一种工频电场测量系统及方法





