[发明专利]一种漏电检测电路

权利要求书

1.一种漏电检测电路，其特征在于，包括第一电流镜、第二电流镜、第一晶体管、第一开关、第二开关和第一基准电流源；

所述第一电流镜与所述第二电流镜连接，用于向所述第二电流镜提供基准电流；

所述第一晶体管的第一极与第一电源连接，所述第一晶体管第二极与所述第二电流镜的电流输出端连接，所述第一晶体管的栅极通过所述第一开关与所述第一电流镜的偏置电压端连接；所述第一晶体管的栅极通过所述第二开关与待测试元件连接；

所述第一基准电流源的第一端与所述第二电流镜的电流输出端连接，所述第一基准电流源的第二端与第二电源连接。

2.根据权利要求1所述的漏电检测电路，其特征在于，所述第一电流镜包括第二晶体管、第三晶体管和第二基准电流源；

所述第一晶体管的栅极通过所述第一开关与所述第二晶体管的栅极连接；

所述第二晶体管的第一极与所述第一电源连接，所述第二晶体管的第二极与所述第二电流镜的电流输入端连接，所述第二晶体管的栅极与所述第三晶体管的栅极连接；

所述第三晶体管的第一极与所述第一电源连接，所述第三晶体管的第二极与其栅极连接；

所述第二基准电流源的第一端与所述第三晶体管的第二极连接，所述第二基准电流源的第二端与所述第二电源连接。

3.根据权利要求2所述的漏电检测电路，其特征在于，所述第二电流镜包括第四晶体管和第五晶体管；

所述第四晶体管的第一极与所述第二电源连接，所述第四晶体管的第二极与所述第一晶体管的第二极以及所述第一基准电流源的第一端连接，所述第四晶体管的栅极与所述第五晶体管的栅极连接；

所述第五晶体管的第一极与所述第二电源连接，所述第五晶体管的第二极与所述第二晶体管的第二极连接，所述第五晶体管的栅极与其第二极连接。

4.根据权利要求3所述的漏电检测电路，其特征在于，所述第二电流镜还包括第六晶体管和第七晶体管，所述第一晶体管的第二极通过所述第六晶体管与所述第四晶体管连接；

其中，所述第六晶体管的第一极与所述第一晶体管的第二极连接，所述第六晶体管的第二极与所述第四晶体管的第二极连接，所述第六晶体管的栅极与所述第七晶体管的栅极连接；

所述第七晶体管的第一极与所述第二晶体管的第二极连接，所述第七晶体管的第二极与所述第五晶体管的第二极连接，所述第七晶体管的栅极与其第二极连接；

所述第一基准电流源的第一端与所述第六晶体管的第二极连接。

5.根据权利要求4所述的漏电检测电路，其特征在于，所述第一晶体管、所述第二晶体管和所述第三晶体管的导电沟道相同；

所述第四晶体管、所述第五晶体管、所述第六晶体管和所述第七晶体管的导电沟道相同，并且与所述第一晶体管的导电沟道不同。

6.根据权利要求1所述的漏电检测电路，其特征在于，还包括第一反相器，所述第一反相器的输入端与所述第一晶体管的第二极连接，所述第一反相器的输出端输出检测信号。

7.根据权利要求1所述的漏电检测电路，其特征在于，还包括串联的至少两个第一反相器；其中，串联连接的第一个所述第一反相器的输入端与所述第一晶体管的第二极连接，最后一个所述第一反相器的输出端输出检测信号。

8.根据权利要求1所述的漏电检测电路，其特征在于，所述第一电流镜的偏置电压和第二电流镜的偏置电压建立期间，所述第一开关导通，所述第二开关关断；所述第一电流镜的偏置电压和第二电流镜的偏置电压建立完成后，所述第一开关关断，所述第二开关导通。

9.根据权利要求1所述的漏电检测电路，其特征在于，所述第一电源的电压为负电压或者接地电压，第二电源的电压为正电压。