[发明专利]一种漏电检测电路有效

专利信息
申请号: 201711424761.X 申请日: 2017-12-25
公开(公告)号: CN109959836B 公开(公告)日: 2021-06-22
发明(设计)人: 方海彬;张现聚;刘铭 申请(专利权)人: 北京兆易创新科技股份有限公司;合肥格易集成电路有限公司
主分类号: G01R31/52 分类号: G01R31/52
代理公司: 北京品源专利代理有限公司 11332 代理人: 孟金喆
地址: 100083 北京市海淀*** 国省代码: 北京;11
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摘要:
搜索关键词: 一种 漏电 检测 电路
【说明书】:

发明公开了一种漏电检测电路,包括第一电流镜、第二电流镜、第一晶体管、第一开关和第一基准电流源;第一电流镜与第二电流镜连接,用于向第二电流镜提供基准电流;第一晶体管的第一极与第一电源连接,第一晶体管第二极与第二电流镜的电流输出端连接,第一晶体管的栅极通过第一开关与第一电流镜的偏置电压端连接;第一晶体管的栅极用于与待测试元件连接;第一基准电流源的第一端与第二电流镜的电流输出端连接,第一基准电流源的第二端与第二电源连接。本发明实施例实现了对稳压电容的漏电流检测。

技术领域

本发明实施例涉及电流检测技术,尤其涉及一种漏电检测电路。

背景技术

在电路系统中,晶体管的栅极通常需要连接稳压电容使晶体管栅极电压稳定,保证电路正常工作。

图1为稳压电容电路的电路框图。当电路正常工作时,稳压电容C充电使晶体管M栅极的电压稳定在Vg,稳压电容C存储的电荷Q=C*Vg,但是,若稳压电容C发生漏电,稳压电容C存储的电荷减小,则晶体管M的栅极的电压减小,电路无法稳定工作。因此,需要对稳压电容的漏电流进行检测。

发明内容

本发明提供了一种漏电检测电路,以检测测试元件是否漏电以及检测测试元件的漏电流。

本发明实施例提供了一种漏电检测电路,包括第一电流镜、第二电流镜、第一晶体管、第一开关和第一基准电流源;

所述第一电流镜与所述第二电流镜连接,用于向所述第二电流镜提供基准电流;

所述第一晶体管的第一极与第一电源连接,所述第一晶体管第二极与所述第二电流镜的电流输出端连接,所述第一晶体管的栅极通过所述第一开关与所述第一电流镜的偏置电压端连接;所述第一晶体管的栅极用于与待测试元件连接;

所述第一基准电流源的第一端与所述第二电流镜的电流输出端连接,所述第一基准电流源的第二端与所述第二电源连接。

可选的,所述第一电流镜包括第二晶体管、第三晶体管和第二基准电流源;

所述第一晶体管的栅极通过所述第一开关与所述第二晶体管的栅极连接;

所述第二晶体管的第一极与所述第一电源连接,所述第二晶体管的第二极与所述第二电流镜的偏置电压端连接,所述第二晶体管的栅极与所述第三晶体管的栅极连接;

所述第三晶体管的第一极与所述第一电源连接,所述第三晶体管的第二极与其栅极连接;

所述第二基准电流源的第一端与所述第三晶体管的第二极连接,所述第二基准电流源的第二端与所述第二电源连接。

可选的,所述第二电流镜包括第四晶体管和第五晶体管;

所述第四晶体管的第一极与所述第二电源连接,所述第四晶体管的第二极与所述第一晶体管的第二极以及所述第一基准电流源的第一端连接,所述第四晶体管的栅极与所述第五晶体管的栅极连接;

所述第五晶体管的第一极与所述第二电源连接,所述第五晶体管的第二极与所述第二晶体管的第二极连接,所述第五晶体管的栅极与其第二极连接。

可选的,所述漏电检测电路还包括第六晶体管,所述第一晶体管的第二极通过所述第六晶体管与所述第四晶体管连接;其中,所述第六晶体管的第一极与所述第一晶体管的第二极连接,所述第六晶体管的第二极与所述第四晶体管的第二极连接;

所述第一电流镜还包括第七晶体管和第八晶体管,所述第五晶体管通过所述第七晶体管与所述第二晶体管连接,所述第二基准电流源通过所述第八晶体管与所述第三晶体管连接;

其中,所述第七晶体管的第一极与所述第二晶体管的第二极连接,所述第七晶体管的第二极与所述第五晶体管的第二极连接,所述第七晶体管的栅极与所述第六晶体管的栅极以及所述第八晶体管的栅极连接;

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