[发明专利]显示装置、触控显示屏及偏光片的接地阻抗的测试方法有效
申请号: | 201711421779.4 | 申请日: | 2017-12-25 |
公开(公告)号: | CN108196128B | 公开(公告)日: | 2021-01-29 |
发明(设计)人: | 刘德健;杨小华;钟志强;粟恺;刘志伟;梁宪宇 | 申请(专利权)人: | 华显光电技术(惠州)有限公司 |
主分类号: | G01R27/20 | 分类号: | G01R27/20;G06F3/041 |
代理公司: | 广州华进联合专利商标代理有限公司 44224 | 代理人: | 邓云鹏 |
地址: | 516006 广东省*** | 国省代码: | 广东;44 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 显示装置 显示屏 偏光 接地 阻抗 测试 方法 | ||
1.一种偏光片的接地阻抗的测试方法,其特征在于,包括:
提供一贴附有高阻抗的偏光片的触控显示屏;
于所述偏光片的下边缘上顺序喷涂银浆,以形成第一电极带、测试电极带和第二电极带,所述第一电极带和所述第二电极带均用于释放静电,所述第一电极带、所述测试电极带和所述第二电极带并排设置;
固化所述第一电极带、所述测试电极带和所述第二电极带;以及
测试所述测试电极带与所述触控显示屏的接地点之间的阻抗,以测试偏光片的接地阻抗。
2.根据权利要求1所述的偏光片的接地阻抗的测试方法,其特征在于,于所述偏光片的下边缘上顺序喷涂银浆的步骤具体为:
通过喷嘴于所述偏光片的下边缘上顺序喷涂所述银浆,其中所述第一电极带、所述测试电极带和所述第二电极带的排列方向与所述喷嘴喷涂所述银浆的方向相同。
3.根据权利要求1或2所述的偏光片的接地阻抗的测试方法,其特征在于,所述喷嘴喷涂所述银浆的方向与所述偏光片的下边缘的延伸方向相同。
4.根据权利要求1所述的偏光片的接地阻抗的测试方法,其特征在于,所述第一电极带与所述测试电极带之间的距离等于所述第二电极带与所述测试电极带之间的距离。
5.根据权利要求1或4所述的偏光片的接地阻抗的测试方法,其特征在于,所述第一电极带的形状为L型。
6.根据权利要求5所述的偏光片的接地阻抗的测试方法,其特征在于,所述第二电极带的形状为L型。
7.根据权利要求1或4所述的偏光片的接地阻抗的测试方法,其特征在于,固化所述第一电极带、所述测试电极带和所述第二电极带的步骤具体为:
通过恒温加热炉加热所述贴附有高阻抗偏光片的触控显示屏,以固化所述第一电极带、所述测试电极带和所述第二电极带。
8.根据权利要求1所述的偏光片的接地阻抗的测试方法,其特征在于,测试所述测试电极带与所述触控显示屏的接地点之间的阻抗的步骤具体为:
通过高阻测试器测试所述测试电极带与所述触控显示屏的接地点之间的阻抗。
9.一种触控显示屏,包括接地点,其特征在于,采用权利要求1至8中任一项所述的偏光片的接地阻抗的测试方法进行测试,所述触控显示屏还包括:
偏光片,所述偏光片包括高阻抗膜;
第一电极带,成型于所述偏光片的下边缘上,所述第一电极带用于释放静电;
测试电极带,成型于所述偏光片的下边缘上,所述测试电极带用于与所述接地点搭配以测试偏光片的接地阻抗;
第二电极带,成型于所述偏光片的下边缘上,所述第二电极带用于释放静电,所述第一电极带、所述测试电极带和所述第二电极带并排设置。
10.一种显示装置,其特征在于,包括如权利要求9所述的触控显示屏。
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