[发明专利]双进料测试处理系统

说明书

一种用于测试电子部件的测试处理机包括：用于传送电子部件的旋转转台以及第一输入站和第二输入站，每个输入站可操作以分别将电子部件送入到传送电子部件的所述旋转转台。仅从所述第一输入站送入的电子部件在包括多个第一测试平台的第一组测试站进行测试，仅从所述第二输入站送入的电子部件在包括多个第二测试平台的第二组第二测试站进行测试。为了从所述旋转转台移出电子部件，第一卸载站接收仅从第一输入站送入的电子部件，第二卸载站接收仅从第二输入站送入的电子部件。

技术领域

本发明涉及用于测试电子部件的测试处理系统，具体涉及用于将电子部件传送到各个测试站进行测试的高速旋转转台。

背景技术

图1是测试电子部件的常规测试处理机100的平面视图。图2是图1所示的常规测试处理机100的等距视图。测试处理机100通常包括高速旋转转台102，其具有多个拾取头以选出通过输入站104送入的电子部件。输入站104可包括震动碗式进料机或其他自动进料设备。

旋转转台102上的拾取头单独拾取电子部件。随后，在成为合格的可使用的电子元件之前，它们被传送到不同功能测试站108以进行一次或多次测试。功能测试站108可包括不同测试，例如电子和/或光学测试。测试之后，通常在卸载站106卸载通过上述测试的电子部件，然后打包到承载带（或其他诸如塑料管或塑料箱的存储介质）上运输。

图3是测试处理机100的功能测试站108和用于将电子部件112放置于功能测试站108进行测试的拾取头110的等距视图。拾取头110沿着旋转转台102的圆周设置，当每个拾取头110随着旋转转台102的旋转而移动时，拾取头它可操作以拾取和运送单个电子部件112。

当电子部件112被传送到功能测试站108之上的位置时，电子部件112被放入包含于功能测试站108的测试平台114中。当电子部件112牢固地容纳于测试平台114上时，对其进行测试。测试平台114可向上移动以从拾取头110收集电子部件112，或拾取头110可向下移动以将电子部件112放入测试平台114。

完成电子部件112的测试后，被测试的电子部件112再次被拾取头110拾取并且通过旋转转台102的旋转逐步传送到卸载站106以从测试处理机100移出。

很明显，测试处理机100的测试周期包括将电子部件112从输入站104转移到功能测试站108花费的时间（或将电子部件112从功能测试站108转移到卸载站106花费的时间）以及测试电子部件所花费的时间。因为操作处理步骤是按顺序进行的，所以不论旋转转台102旋转多快或将电子部件112转移到不同位置或将其从不同位置转移所花费的时间减少多少，测试每个电子部件112需要的时间实质上相同，不会明显减少。因此，测试所需时间造成了限制进一步减少常规测试处理机100操作周期时间的瓶颈。

为了在不改变测试每个电子部件112所需的时间的条件下显著增加系统的吞吐量，有必要对常规测试处理机100进行重新配置。特别地，如果能以在不改变测试每个电子部件112所需的时间的条件下显著增加吞吐量的方式重新设置常规测试处理机100的旋转转台102上装载或卸载电子部件112的转移机构，这将是有益的。

发明内容

由此，本发明的一个目的是提供一种即使测试每个电子部件需要的时间相对固定也能增加系统吞吐量的重新配置的测试处理机。

因此，本发明提供了一种用于测试电子部件的测试处理机，包括：用于传送电子部件的旋转转台；第一输入站和第二输入站，每个输入站可操作以分别将电子部件送入用于传送电子部件的所述旋转转台；第一组测试站，其包括多个用于测试仅从所述第一输入站送入的电子部件的第一测试平台，和第二组测试站，其包括多个用于测试仅从所述第二输入站送入的电子部件的第二测试平台；以及第一卸载站，其可操作以接收仅从所述第一输入站送入的电子部件，和第二卸载站，其可操作以接收仅从所述第二输入站送入的电子部件，所述第一卸载站和所述第二卸载站用于将所述电子部件从所述旋转转台移出。