[发明专利]基于处理器的内存参数的调试方法及系统

权利要求书

1.一种基于处理器的内存参数的调试方法，其特征在于，包括：

对目标板卡对应的板卡参数进行模拟分析，模拟出目标板卡的硬件环境，确定待测的内存参数，所述内存参数包括时延参数和时序参数；

依据所述时延参数对所述时序参数进行测试，输出测试结果；

判断测试结果中的读取数据是否与预设数据一致；

若不一致，则依据所述测试结果确定需要调整的时延参数，对所述需要调整的时延参数进行调整；

其中，依据所述时延参数对所述时序参数进行测试，输出测试结果，包括：

依据所述时序参数，设置处理器中的内存控制器的值，其中，所述内存控制器的值用于控制所述内存控制器发送的信号波形；

依据所述内存控制器发送的信号波形，将预设数据写入到所述内存控制器所连接的内存中；

依据所述时延参数从所述内存中读取数据，以及基于读取到的数据生成测试结果。

2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述对目标板卡对应的板卡参数进行模拟分析，模拟出目标板卡的硬件环境，确定待测的内存参数，包括：

接收输入的板卡参数；

对所述输入的板卡参数进行硬件环境模拟处理，确定目标板卡的硬件环境信息；

基于所述硬件环境信息和预设参考参数进行综合处理，确定待测的时延参数和时序参数，所述预设参考参数包括预设的参考板卡的参考时延参数和参考时序参数。

3.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，

所述将预设数据写入到所述内存控制器所连接的内存中之前，还包括：设置所述处理器的电压值；

所述对所述需要调整的时延参数进行调整，包括：对需要调整的时延参数进行调整，确定时延参数的边界值；依据所述时延参数的边界值进行综合处理，确定所述电压值对应的优化内存参数；

所述依据所述时延参数对所述时序参数进行测试，输出测试结果，包括：依据所述优化内存参数进行时序参数测试，得到所述电压值对应的测试结果。

4.根据权利要求3所述的方法，其特征在于，还包括：

在所述测试结果中的读取数据与预设数据一致时，判断所述处理器的电压值是否到达所述处理器的工作调整电压阈值；

若所述电压值未到达所述工作调整电压阈值，则对所述电压值进行调整，基于调整后的电压值重新进行时序参数测试；

若所述电压值到达所述工作调整电压阈值，则将所述电压值对应的优化内存参数导入到输出结果中。

5.根据权利要求1至4任一所述的方法，其特征在于，所述依据所述测试结果确定需要调整的时延参数，包括：

基于预设数据对所述测试结果中的读取数据进行误码分析，得到误码分析结果；

基于所述误码分析结果，确定需要调整的时延参数。

6.一种基于处理器的内存参数的调试系统，其特征在于，包括：

控制模块，用于对目标板卡对应的板卡参数进行模拟分析，模拟出目标板卡的硬件环境，确定待测的内存参数，所述内存参数包括时延参数和时序参数；

测试模块，用于依据所述时延参数对所述时序参数进行测试，输出测试结果；

反馈模块，用于判断测试结果中的读取数据是否与预设数据一致；若不一致，则依据所述测试结果确定需要调整的时延参数，触发所述控制模块对所述需要调整的时延参数进行调整；

其中，所述测试模块包括：

设置子模块，用于依据所述时序参数，设置处理器中的内存控制器的值，其中，所述内存控制器的值用于控制所述内存控制器发送的信号波形；

数据写入子模块，用于依据所述内存控制器发送的信号波形，将预设数据写入到所述内存控制器所连接的内存中；

测试结果子模块，用于依据所述时延参数从所述内存中读取数据，以及基于读取到的数据生成测试结果。