[发明专利]一种光耦时间特性检测的装置在审

专利信息
申请号: 201711407991.5 申请日: 2017-12-22
公开(公告)号: CN108037394A 公开(公告)日: 2018-05-15
发明(设计)人: 林良勤;占伟星;蒋梦影;伊有良;陶敬荣;刘先进 申请(专利权)人: 浙江八达电子仪表有限公司;国网浙江省电力公司金华供电公司
主分类号: G01R31/00 分类号: G01R31/00;G01R31/26;G01R31/27
代理公司: 杭州华鼎知识产权代理事务所(普通合伙) 33217 代理人: 项军
地址: 321018 浙江*** 国省代码: 浙江;33
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摘要:
搜索关键词: 一种 时间 特性 检测 装置
【说明书】:

发明涉及一种光耦时间特性检测的装置,包括壳体、脉冲信号发生器、电源和示波器,示波器、脉冲信号发生器均与电源电连接,壳体上设有测试座,所述脉冲信号发生器包括与测试座相连的输出部,脉冲信号发生器连接有旋钮;本发明的优点:通过测试座实现光耦快速的固定在壳体上,通过脉冲信号发生器的输出部向测试座输入方波信号,并通过旋钮来调整脉冲信号的输出幅值,使光耦发射二级管正向峰值电流Ic=2mA即在要示波器中的方波峰值为Up‑p=100mV,然后通过示波器检测到待测光耦的上升时间、下降时间、开通时间、关断时间,从而可快速准确测试出光耦时间特性的相关数据,工作强度低,且通过电源的设置,能实现脉冲信号发生器和示波器可靠的运行。

技术领域

本发明涉及一种光耦时间特性检测的装置。

背景技术

光耦以光为媒介来传输电信号的器件,通常把发光器与受光器封装在同一管壳内。当输入端加电信号时发光器发出光线,受光器接受光线之后就产生光电流,从输出端流出,从而实现了“电—光—电”转换,而现有光耦需要进行时间特性检测,而现有的光耦时间特性检测均通过人工连接测试电路来分别测试上升时间、下降时间、开通时间、关断时间,导致工作强度大,测试效率低,且测试的准确率不高,且人工安装检测电路时导致整体占用空间大,测试设备杂乱放置,整体效果差,电路零件容易损坏。

发明内容

本发明要解决的技术问题就是提供一种光耦时间特性检测的装置,解决现有光耦时间特性检测存在测试效率低及测试设备杂乱放置的技术问题。

为了解决上述技术问题,本发明是通过以下技术方案实现的:一种光耦时间特性检测的装置,包括壳体、脉冲信号发生器、电源和示波器,所述壳体上设有第一安装部和第二安装部,所述脉冲信号发生器通过第一安装部安装在壳体上,所述示波器通过第二安装部安装在壳体上,所述示波器、脉冲信号发生器均与电源电连接,所述壳体上设有固定光耦的测试座,所述脉冲信号发生器包括与测试座相连的输出部,所述示波器包括信号输入端和信号输出端,所述壳体上设有与信号输入端相连的输入信号测试接口,所述壳体上设有与信号输出端相连的输出信号测试接口,所述脉冲信号发生器连接有调整脉冲信号输出幅值的旋钮。

优选的,所述第一安装部为形成在壳体上的容腔,所述容腔一侧设有开口,所述脉冲信号发生器通过所述开口装入所述容腔内,第二安装部为构成凹腔的其中一个壁板上,所述示波器安装在壁板上且位于容腔外侧。

优选的,所述壳体上还设有与电源相连的电源接口,所述电源接口安装在构成凹腔的另一个壁板上

优选的,所述开口设在壳体的顶端,且壳体上设有密封开口的密封板。

优选的,所述测试座包括第一测试座和第二测试座,通过第一测试座来放置贴片封装的光耦,通过第二测试座来放置双列直插封装的光耦,且壳体上设有标识牌。

优选的,所述第一测试座和第二测试座上均设有密封罩。

优选的,所述壳体上还设有控制电源接口通电和断电的电源开关。

优选的,所述壳体上设有固定电源开关的凹槽。

综上所述,本发明的优点:1.通过测试座实现光耦快速的固定在壳体上,通过脉冲信号发生器的输出部向测试座输入方波信号,并通过旋钮来调整脉冲信号的输出幅值,使光耦发射二级管正向峰值电流Ic=2mA即在要示波器中的方波峰值为Up-p=100mV,然后通过示波器检测到待测光耦的上升时间、下降时间、开通时间、关断时间,从而可快速准确测试出光耦时间特性的相关数据,测试效果好,工作强度低,且通过电源的设置,能实现脉冲信号发生器和示波器可靠的运行,且通过信号输入端和信号输出端来检测示波器的信号,能保证数据能准确、实时的显示在示波器上;

2.通过第一安装部实现脉冲信号发生器安装在壳体上,通过第二安装部实现示波器安装在壳体上,能使脉冲信号发生器和示波器与壳体统一形成一个整体,安装拆卸方便,结构更加紧凑;

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