[发明专利]搜寻最佳频率的方法

说明书

本发明提出搜寻最佳频率的方法。方法包括：当控制板发现单板上的所有ASIC的当前频率到达预设测频起始频率时，启动测频过程；在测频周期到来时，对单板上的所有ASIC进行测频操作，判断该单板的本次测频通过率预设测频通过率阈值是否成立，若是，将每个ASIC的当前频率和测频通过频率分别减去一个频率递增步长，否则，将未通过本次测频的各ASIC的当前频率和测频通过频率分别减去一个频率递增步长；判断是否满足预设测频结束条件，若是，本流程结束；否则，继续升频和测频过程。本发明可以为单板上的每个ASIC分别搜寻到最佳频率。

技术领域

本发明涉及频率控制技术领域，尤其涉及的搜寻最佳频率的方法。

背景技术

目前，在集成电路界ASIC(Application Specific Integrated Circuit，专用集成电路)被认为是一种为专门目的而设计的集成电路，是指应特定用户要求和特定电子系统的需要而设计、制造的集成电路。ASIC的特点是面向特定用户的需求，ASIC在批量生产时与通用集成电路相比具有体积更小、功耗更低、可靠性提高、性能提高、保密性增强、成本降低等优点。

对于一个设备来说，该设备上通常包含多个单板，每个单板包含多个ASIC，控制板完成对多个单板的控制和管理。控制板通常都是直接给单板上的所有ASIC设置一个固定频率，然后单板上的所有ASIC在该固定频率下工作。

发明内容

本发明提出搜寻最佳频率的方法，为单板上的每个ASIC分别搜寻到最佳频率。

本发明的技术方案是这样实现的：

一种搜寻最佳频率的方法，该方法包括：

A、控制板在升频周期到来时，将单板上各专用集成电路ASIC的当前频率增加一个预设频率递增步长；

B、控制板发现单板上的所有ASIC的当前频率到达预设测频起始频率时，启动测频过程；

C、控制板在测频周期到来时，对单板上的所有ASIC进行测频操作，计算该单板的本次测频通过率＝该单板上通过本次测频的ASIC的数目/该单板上的所有ASIC的数目，判断该单板的本次测频通过率预设测频通过率阈值是否成立，若是，执行步骤E；否则，执行步骤D；

D、控制板更新未通过本次测频的各ASIC的当前频率为：各ASIC的当前频率减去一个频率递增步长，更新未通过本次测频的各ASIC的测频通过频率为：各ASIC的当前测频通过频率减去一个频率递增步长，转至步骤F；

E、控制板更新每个ASIC的当前频率为：每个ASIC的当前频率减去一个频率递增步长，更新每个ASIC的测频通过频率为：每个ASIC的当前测频通过频率减去一个频率递增步长；

F、控制板判断是否满足预设测频结束条件，若是，本流程结束；否则，返回步骤A。

步骤B所述启动测频过程之后进一步包括：初始化各ASIC的测频通过频率＝测频起始频率；

且，步骤C所述对单板上的所有ASIC进行测频操作之后进一步包括：更新每个ASIC的测频通过频率＝该ASIC的当前频率。

所述测频结束条件包括：

一、单板上所有ASIC的测频通过频率的总和不小于所有ASIC的目标频率的总和；

二、单板升频次数不小于预设的单板最大升频次数，其中，单板升频次数等于单板上所有ASIC的升频次数的总和。

只要满足如上两个条件中的一个就认为测频结束。

所述单板最大升频次数＝((目标频率-初始频率)/频率递增步长+10)*单板上的ASIC总数。

所述测频起始频率的取值范围为：初始频率测频起始频率目标频率；