[发明专利]一种用于传输高频信号的测试针

说明书

技术领域

本发明涉及测试针设计制造技术领域，尤其涉及一种用于传输高频信号的测试针。

背景技术

测试针，业内也称探针，用于PCB板测试时又分为弹簧针(专用针)和通用针，弹簧针在使用时，需要根据所测试的PCB板的布线情况制作测试模具，且一般情况下，一个模具只能测试一种PCB板；通用针在使用时，只需有足够的点数即可，故现在很多厂家都在使用通用针；弹簧针根据使用情况又分为PCB板探针、ICT探针、BGA探针，PCB板探针主要用于PCB板测试，ICT探针主要用于插件后的在线测试，BGA探针主要用于BGA封装测试及芯片测试。

现有市面上用于传输高频信号的测试针存在电流被分流的现象，原因在于，该类的测试针，在针轴与针管之间的连接存在间隙，针管与针轴之间有接触不稳定的风险，这导致电流被分流，导致电流传输没有达到一个稳定的水平，使得信号传输产生不稳定。

因此寻找一种能够使得高频信号传输稳定的测试针成为本技术领域人员所研究的重要课题。

发明内容

本发明实施例公开了一种用于传输高频信号的测试针，用于解决现有技术中的测试针传输高频信号性能较差的技术问题。

本发明实施例提供了一种用于传输高频信号的测试针，包括针轴、针管、绝缘套以及冠簧；

所述针轴包括测试头部、尾端部以及用于连接所述测试头部和所述尾端部的第一连接轴；

所述测试头部伸出所述针管的开口端；所述尾端部套装于所述针管内；

所述第一连接轴的横截面的直径比所述尾端部的横截面的直径小；

所述第一连接轴的横截面的直径比所述测试头部的横截面的直径小；

所述绝缘套套装于所述第一连接轴上，并且，所述绝缘套的第一端紧贴于所述测试头部，所述绝缘套的第二端紧贴于所述尾端部；

所述尾端部朝向针管内的一端设置有第二连接轴；所述第二连接轴连接有抵触部；

所述第二连接轴的横截面的直径比所述尾端部的横截面的直径小；

所述第二连接轴的横截面的直径比所述抵触部的横截面的直径小；

所述冠簧套装于所述第二连接轴上，并且，所述冠簧的第一端紧贴于所述尾端部；所述冠簧的第二端紧贴于所述抵触部；所述冠簧的外侧面紧贴于所述针管的内壁。

可选地，所述冠簧包括沿所述冠簧轴向分设于所述冠簧两端的端带、位于两所述端带之间的中带以及连接于每个所述端带与所述中带之间且间隔设置的若干簧片。

可选地，所述簧片上设置有向针管的内壁方向突伸的第一凸起部。

可选地，所述簧片包括第一簧片和第二簧片；

所述第一簧片为直板型第一簧片；

所述第二簧片上设置有向针管的内壁方向突伸的第二凸起部。

可选地，每两块所述第一簧片之间设置有所述第二簧片。

可选地，所述冠簧一端的端带紧贴于所述尾端部，所述冠簧另一端的端带紧贴于所述抵触部。

可选地，所述第一连接轴的外壁紧贴所述绝缘套的内壁。

可选地，所述第一连接轴与所述测试头部和所述尾端部为一体成型结构；

所述第二连接轴与所述尾端部和所述抵触部为一体成型结构。

可选地，所述尾端部与所述针管的开口端进行铆接。

可选地，所述针管内还套装有弹簧；

所述弹簧的第一端紧贴于所述抵触部，所述弹簧的第二端紧贴于所述针管的闭口端。

从以上技术方案可以看出，本发明实施例具有以下优点：