[发明专利]一种Slimline接口的SATA信号测试治具及测试方法

说明书

本发明提供了一种Slimline接口的SATA信号测试治具及测试方法，所述测试治具由一个Slimline公头、两对PCB走线及两对SMA公头组成，Slimline公头将所述测试治具与被测接口的连接，所述PCB走线将信号从Slimline接口引至所述SMA公头接口，所述SMA公头通过SMA线缆与示波器的连接。本发明通过测试治具方便地进行Slimline接口的SATA信号测试，实现通过SMA线缆与示波器的连接，操作灵活、方便，提高测试效率，且消除用探头直接点测带来的测试误差，提高了测试精度。

技术领域

本发明涉及测试的技术领域，具体涉及一种Slimline接口的SATA信号测试治具及测试方法。

背景技术

随着板卡密度的不断提高，元器件的封装尺寸越来越小，Slimline作为一种高密度、小尺寸的连接器得到越来越广泛的使用。Slimline接口的信号引脚密度较高且都被包裹，且Slimline接口的SATA信号为高速信号，必须进行信号完整性测试。如果用探头直接在Slimline接口上点测可能会遇到无法正常接触到信号引脚或接触不稳定的情况，从而导致无法正常、精确的进行测试。

针对Slimline接口的SATA信号完整性测试，如果不借助测试治具，只能用高速探头直接在Slimline接口上进行点测。但是，这样操作可能会遇到无法正常接触到信号引脚或接触不稳定的情况，从而导致无法正常、精确的进行测试，测试效率及测试精度无法保证。

发明内容

基于上述问题，本发明提出了一种Slimline接口的SATA信号测试治具及测试方法，提高测试效率和精确度。

本发明提供如下技术方案：

一方面，本发明提供了一种Slimline接口的SATA信号测试治具，包括：

所述测试治具由一个Slimline公头、两对PCB走线及两对SMA公头组成，所述Slimline公头用于所述测试治具与被测接口的连接，所述PCB走线用于将信号从Slimline接口引至所述SMA公头接口，所述SMA公头用于通过SMA线缆与示波器的连接。

其中，所述信号为SATATX信号及RX信号，所述TX是差分的SATA发送信号，所述RX是差分的SATA接收信号。

另外，本发明还提供了一种Slimline接口的SATA信号测试方法，所述方法包括：

信号仿真，对板材、叠层、走线宽度、走线距离、阻抗要求仿真，设置布线规则；

Layout布线设计，按照所述布线规则进行布线设计；

打板，在Layout布线设计完成后进行打板；

测试验证，所述打板完成后进行阻抗、Loss测试；

被测接口与测试治具的连接，开始测试。

其中，被测接口与测试治具的连接具体为：Slimline公头将测试治具与被测接口的连接，PCB走线将信号从Slimline接口引至SMA公头接口，SMA公头通过SMA线缆与示波器的连接。

其中，所述信号为SATATX信号及RX信号，所述TX是差分的SATA发送信号，所述RX是差分的SATA接收信号。

本发明提供了一种Slimline接口的SATA信号测试治具及测试方法，所述测试治具由一个Slimline公头、两对PCB走线及两对SMA公头组成，Slimline公头将所述测试治具与被测接口的连接，所述PCB走线将信号从Slimline接口引至所述SMA公头接口，所述SMA公头通过SMA线缆与示波器的连接。本发明通过测试治具方便地进行Slimline接口的SATA信号测试，实现通过SMA线缆与示波器的连接，操作灵活、方便，提高测试效率，且消除用探头直接点测带来的测试误差，提高了测试精度。