[发明专利]一种低相噪光频梳附加噪声的测量装置

说明书

本发明公开了一种低相噪光频梳附加噪声的测量装置，包括：第一光频梳、第二光频梳、超稳光源、第一隔离器、第二隔离器、衰减器、第一移相器、耦合器、第一滤波器、第三隔离器、第一放大器、第二滤波器、第二放大器、第二移相器、混频器、低通滤波器、基带放大器和FFT测试仪。本发明的低相噪光频梳附加噪声的测量装置为基于自相关法的载波抑制系统，通过载波抑制后，混频器和低噪声放大器的噪声对测量结果没有影响；并且光电探测器PD的噪声在测量结果中会被相关去除，对测量结果没有影响；解决低相噪光频梳附加噪声的测量问题。

技术领域

本发明涉及光频梳技术领域，具体涉及一种低相噪光频梳附加噪声的测量装置。

背景技术

传统的光频梳附加噪声测量技术是采用检相法，主要包括检相器、光电探测器PD、低噪声放大器和第一D采集器等。这种方法通过采用双平衡混频器作为检相器来使用，近载频光频梳附加噪声的测量结果会受到混频器自身有色噪声的影响，而且为了使得输入到混频器上的信号功率适当，会在光电探测器PD的输出后加入放大器，这些放大器自身有色噪声和热噪声也会影响光频梳附加噪声性能的测量结果。

目前国内光频梳附加噪声测量的问题是：1、检相法中混频器和低噪声放大器的噪声对测量结果有影响；2、检相法中引入了光电探测器PD的噪声，对测量结果有影响。

发明内容

为解决上述技术问题，本发明提供一种低相噪光频梳附加噪声的测量装置，解决低相噪光频梳附加噪声的测量问题。

为了实现上述目的，本发明采用以下技术方案：

一种低相噪光频梳附加噪声的测量装置，包括：第一光频梳、第二光频梳、超稳光源、第一隔离器、第二隔离器、衰减器、第一移相器、耦合器、第一滤波器、第三隔离器、第一放大器、第二滤波器、第二放大器、第二移相器、混频器、低通滤波器、基带放大器和FFT测试仪；

第一光频梳的光参考端与超稳光源的参考输出1端连接，第一光频梳的射频端与第一隔离器的输入端连接；第一隔离器的输出端与衰减器的输入端连接；衰减器的输出端与耦合器的输入1端连接；

第二光频梳的光参考端与超稳光源的参考输出2端连接，第二光频梳的射频端与第二隔离器的输入端连接；第二隔离器的输出端与第一移相器的输入端连接，第一移相器的输出端与耦合器的输入2端连接；

耦合器的差分1端与第一滤波器的输入端连接；第一滤波器的输出端与第一放大器的输入端连接；第一放大器的输出端与混频器的本振端连接；

耦合器的差分2端与第三隔离器的输入端连接；第三隔离器的输出端与第二滤波器的输入端连接；第二滤波器的输出端与第二放大器的输入端连接；第二放大器的输出端与第二移相器的输入端连接；第二移相器的输出端与混频器的射频端连接；

混频器的中频端与低通滤波器的输入端连接；低通滤波器的输出端与基带放大器的输入端连接；基带放大器的输出端与FFT测试仪连接。

具体的，所述超稳光源与第一光频梳和第二光频梳之间的连接通过单模光纤连接。

更具体的，所述第一光频梳、第二光频梳、第一隔离器、第二隔离器、衰减器、第一移相器、耦合器、第一滤波器、第三隔离器、第一放大器、第二滤波器、第二放大器、第二移相器、混频器、低通滤波器、基带放大器和FFT测试仪之间的连接通过射频电缆连接。

本发明的有益效果

本发明提供的低相噪光频梳附加噪声的测量装置，解决低相噪光频梳附加噪声的测量问题，其具有以下优点：1)、通过载波抑制后，混频器和低噪声放大器的噪声对测量结果没有影响；2)、基于自相关法的载波抑制系统，光电探测器PD的噪声在测量结果中会被相关去除，对测量结果没有影响。

附图说明

图1为本发明低相噪光频梳附加噪声的测量装置功能实现示意图。