[发明专利]光纤的制造工艺有效

专利信息
申请号: 201711392992.7 申请日: 2016-03-31
公开(公告)号: CN108129036B 公开(公告)日: 2020-08-21
发明(设计)人: 何园园;闫瑞 申请(专利权)人: 杭州富通通信技术股份有限公司
主分类号: C03C25/66 分类号: C03C25/66;G01M11/00
代理公司: 杭州裕阳联合专利代理有限公司 33289 代理人: 姚宇吉
地址: 311400 *** 国省代码: 浙江;33
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摘要:
搜索关键词: 光纤 制造 工艺
【说明书】:

发明公开了一种光纤的制造工艺,包括以下步骤:1)将多个光纤盘放入氘处理罐中,将其中一个光纤盘中光纤的穿出氘处理罐;2)检测光纤与步骤1)中的光纤连接;3)抽真空;4)充氮;5)再次抽真空;6)将氘氮混合气体充入,保持处理罐内温度为28℃~32℃,压强为0.02~0.03Mpa;7)36~48小时后,每隔30分钟~60分钟,通过检测设备对光纤进行检测,当被检测的光纤合格时,将氘处理罐内的气体抽出,结束氘处理;当被检测的光纤不合格时,继续进行氘处理。本制造工艺通过将氘处理罐内的光纤穿出,从而能够在线监测,相对于现有技术氘处理完后在进行检测的工艺而言,能够提高氘处理的成功率,提高生产效率,节约成本。

本申请是申请日为2016年03月31日,申请号为201610195958.X,发明名称为“光纤的制造工艺”的分案申请。

技术领域

本发明涉及光纤领域,具体涉及光纤的制造工艺。

背景技术

通过对预制棒进行拉丝、冷却、涂覆以及固化工艺后,得到光纤。当制造光纤时,由于热源或用于制造光纤的原材料中杂质,光纤可能会包含OH基。在高能量辐射中,OH基的含量可能会增加。由于由OH基所引起的光纤的损耗特性,使光纤难以在E波段(1360nm-1460nm)的范围内进行操作。即使当光纤具有少量的OH基,如果将光纤暴露于氢气,则该现象更差。由于氢气而引起的光纤损耗作为时间的函数的增加已知为“氢气时效损耗”,当光纤使用了较长时间时,氢气时效损耗可能会引起严重的问题。

为了解决上述问题,已经提出了将包含在光纤中的OH基置换为OD基的技术。这涉及将光纤暴露于氘气中。由于这样的置换反应是不可逆反应,因此,即使后面将光纤暴露于氢气,在以氘气处理过的光纤中也不会形成OH基。

现有制造工艺中,氘处理分为两个部分,一是将光纤放入氘处理罐,然后进行氘处理;二是对处理好的光纤进行检测,测试氘处理是否合格。现有的这种制造工艺不能在线对光纤进行检测,需要氘处理完后才能进行,这样很难保证氘处理效果,光纤可能存在多充或少充氘的问题。

发明内容

本发明针对上述问题,提出了一种光纤的制造工艺。解决了现有工艺很难保证氘处理效果,光纤可能存在多充或少充氘的问题。

本发明采取的技术方案如下:

一种光纤的制造工艺,包括以下步骤:

1)打开氘处理罐,将多个光纤盘放入氘处理罐中,选定至少一个光纤盘,将光纤盘中光纤的一端穿出氘处理罐的侧壁,且对穿出部位做密封处理;

2)通过光纤连接器将检测光纤的一端与步骤1)穿出氘处理罐的光纤对接,检测光纤的另一端连接检测设备;

3)关闭氘处理罐,对其进行抽真空;

4)将氮气充入氘处理罐内;

5)再次进行抽真空;

6)将氘气与氮气的混合气体充入氘处理罐内,保持处理罐内温度为28℃~32℃,压强为0.02~0.03Mpa;

7)36~48小时后,每隔30分钟~60分钟,通过检测设备对穿出氘处理罐的光纤进行检测,当被检测的光纤合格时,将氘处理罐内的气体抽出,结束氘处理;当被检测的光纤不合格时,继续进行氘处理。

本制造工艺通过将氘处理罐内的光纤穿出,从而能够在线监测,相对于现有技术氘处理完后在进行检测的工艺而言,能够提高氘处理的成功率,提高生产效率,节约成本。

可选的,步骤1)和步骤2)通过氘处理系统进行操作,所述氘处理系统包括:

氘处理罐,侧壁具有供光纤穿过的通孔;

密封机构,用于防止气体通过通孔流入或流出氘处理罐;

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