[发明专利]坐标测量装置有效

专利信息
申请号: 201711390952.9 申请日: 2017-12-21
公开(公告)号: CN108387175B 公开(公告)日: 2020-12-01
发明(设计)人: T·鲁斯;R·斯蒂格 申请(专利权)人: 莱卡地球系统公开股份有限公司
主分类号: G01B11/00 分类号: G01B11/00
代理公司: 北京三友知识产权代理有限公司 11127 代理人: 吕俊刚;杨薇
地址: 瑞士海*** 国省代码: 暂无信息
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摘要:
搜索关键词: 坐标 测量 装置
【权利要求书】:

1.一种坐标测量装置(100、100’、100”、100”’),所述坐标测量装置用于检测能够在空间中移动并且包括回射器(3)的目标物体(104、104A、104B、104C)的位置,其中,所述坐标测量装置至少包括

辐射源(101、101’),所述辐射源用于发射光学测量光束(103),其中,所述测量光束借助于光束引导单元(16、16’、16”、16”’)沿限定空间方向被发射并由此限定目标轴(11),

测距功能(106),所述测距功能用于借助于所述测量光束(103)来确定到所述目标物体的距离,

测角功能,所述测角功能用于确定所述测量光束(103)的发射方向,

目标跟踪功能,所述目标跟踪功能用于连续跟踪所述目标物体,以及

评估和控制单元(107),所述评估和控制单元用于数据存储并且用于控制所述坐标测量装置,

其特征在于

所述坐标测量装置包括目标物体数据库,所述目标物体数据库被存储在所述评估和控制单元中,并且提供针对一组单独目标物体的信息,所述信息至少包括

规格,所述规格被指配给每个所述单独目标物体,以及

差分参数的值,所述差分参数的值被指配给每个所述单独目标物体,其中,所述差分参数包括来自下列组中的至少一个元素

代表目标物体的总回射能力的参数,以及

代表目标物体的回射器的孔径尺寸的参数,

其中,在由所述评估和控制单元针对要标识的目标物体自动控制的标识功能的范围内,确定来自以下组中的至少一个标识元素

借助于强度检测器(7、9、106、108、110)登记的目标物体的强度信号的值,

借助于平面检测器(7、9、108、110)捕获的目标物体的图像的直径或面积,

其中

自动标识所述目标物体基于所确定的标识元素来进行,其中,为了标识的目的,所述标识元素被设定成与借助于所述测距功能确定的到所述目标物体的距离有关,以及

向所述目标物体分配所指配的规格基于由所述目标物体数据库提供的信息来进行。

2.根据权利要求1所述的坐标测量装置(100、100’、100”、100”’),

其特征在于,

所述坐标测量装置是激光跟踪仪。

3.根据权利要求1所述的坐标测量装置(100、100’、100”、100”’),

其特征在于,

代表目标物体的总回射能力的参数是入射在所述目标物体上的辐射相对于入射辐射的已经在所述目标物体上被回射的部分的比率。

4.根据权利要求1所述的坐标测量装置(100、100’、100”、100”’),

其特征在于,

代表目标物体的回射器的孔径尺寸的参数是借助于相距限定距离的平面检测器捕获的所述目标物体的回射器的图像的直径或面积。

5.根据权利要求1所述的坐标测量装置(100、100’、100”、100”’),

其特征在于

所述测距功能包括绝对距离测量单元,并且标识所述目标物体基于借助于所述绝对距离测量单元测量的到所述目标物体的距离来进行。

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