[发明专利]一种X射线吸收谱测量装置及测量方法

权利要求书

1.一种X射线吸收谱测量装置，其特征在于：包括用于放置被测样品(20)的样品安放装置(8)，所述被测样品(20)接收X射线并发出荧光信号；还包括用于探测所述荧光信号的荧光探测装置(6)以及与荧光探测装置(6)的输出电连接的处理器(10)。

2.根据权利要求1所述的X射线吸收谱测量装置，其特征在于：还包括用于调节荧光探测装置(6)与被测样品(20)的距离的位置调节装置(50)，荧光探测装置(6)与位置调节装置(50)连接；优选所述位置调节装置(50)与处理器(10)电连接。

3.根据权利要求1中所述的X射线吸收谱测量装置，其特征在于，所述荧光探测装置(6)包括至少两个用于探测所述荧光信号的第一探测模块(61)；各个第一探测模块(61)分别连接有相互独立工作的控制开关(62)，各个第一探测模块(61)并联后与处理器(10)电连接；优选所述第一探测模块(61)为光电二极管；优选第一探测模块的数量为至少4个；优选各个所述控制开关(62)均与处理器(10)电连接；优选所述荧光探测装置(6)包括绝缘基板(63)，所述第一探测模块(61)设置于绝缘基板(63)上。

4.根据权利要求1-3中任一项所述的X射线吸收谱测量装置，其特征在于：还包括向被测样品(20)发射所述X射线的X射线源(30)。

5.根据权利要求1-3中任一项所述的X射线吸收谱测量装置，其特征在于：样品安放装置(8)与荧光探测装置(6)之间还设置有可过滤电子的过滤膜(7)；优选所述过滤膜(7)为电子级聚酰亚胺薄膜。

6.根据权利要求5所述的X射线吸收谱测量装置，其特征在于：还包括感应室外壳(1)、电流放大装置(9)；所述感应室外壳(1)、荧光探测装置(6)、过滤膜(7)围成荧光感应腔(3)；所述荧光探测装置(6)、电流放大装置(9)、处理器(10)依次电连接；所述感应室外壳(1)接地。

7.根据权利要求1-3中任一项所述的X射线吸收谱测量装置，其特征在于：所述的样品安放装置(8)上的被测样品(20)的安装面与X射线的夹角范围为1°-2°。

8.根据权利要求6所述的X射线吸收谱测量装置，其特征在于：还包括为所述荧光探测装置(6)供电的电源，感应室外壳(1)上设置有电源接口(4)、输出接口(5)，所述电源通过电源接口(4)为所述荧光探测装置(6)供电，所述荧光探测装置(6)的输出均与输出接口(5)电连接。

9.一种利用权利要求1-8中任一项所述的X射线吸收谱测量装置的X射线吸收谱测量方法，其特征在于：包括如下步骤：

(a)将被测样品(20)放置在样品安放装置(8)上，向被测样品(20)发射X射线，利用荧光探测装置(6)接收被测样品(20)发出的荧光信号，利用处理器(10)得到荧光探测装置(6)的输出值；

(b)调整向被测样品(20)发射的X射线的能量，得到不同的X射线的能量对应的荧光探测装置(6)的输出值；

(c)根据不同的X射线的能量对应的荧光探测装置(6)的输出值计算得到被测样品(20)的X射线吸收谱；

优选地，X射线吸收谱测量装置包括向被测样品(20)发射所述X射线的X射线源(30)；

优选地，X射线吸收谱测量装置包括用于调节荧光探测装置(6)与被测样品(20)的距离的位置调节装置(50)，所述步骤(a)中，还包括：利用位置调节装置(50)将荧光探测装置与被测样品(20)的距离调整为荧光探测装置(6)可接收到荧光信号的最大距离；

优选地，样品安放装置(8)与荧光探测装置(6)之间还设置有可过滤电子的过滤膜(7)，所述步骤(a)中，还包括利用过滤膜(7)过滤电子；

优选地，荧光探测装置(6)的所述输出值为感应电流值。

10.根据权利要求9所述的射线吸收谱测量方法，其特征在于：所述荧光探测装置(6)包括至少两个用于探测所述荧光信号的第一探测模块(61)；各个第一探测模块(61)分别连接有相互独立工作的控制开关(62)，各个第一探测模块(61)并联后与处理器(10)电连接；所述步骤(c)包括：

(c1)若判断所有控制开关(62)均闭合时对应的吸收谱中存在干扰，则依次仅闭合一个控制开关(62)，重复步骤(a)-(b)，得到单独闭合各个控制开关(62)时对应的吸收谱；

(c2)判断各个吸收谱中是否存在干扰，将存在干扰的吸收谱对应的控制开关(62)断开，重复步骤(a)-(b)，根据不同的X射线的能量对应的荧光探测装置(6)的输出值计算被测样品(20)的X射线吸收谱。