[发明专利]获取LED驱动电源寿命信息的方法及装置

权利要求书

1.一种获取LED驱动电源寿命信息的方法，其特征在于，包括：

获取典型应用工况下LED驱动电源的极限应力试验数据；其中，所述极限应力试验数据为根据典型应用工况下LED驱动电源的失效机理及敏感应力，对预定数量的同批次LED驱动电源进行极限应力试验所得的试验数据；

根据所述极限应力试验数据，识别所述LED驱动电源的多个关键元器件及相应的敏感应力；

获取各所述关键元器件对应的各组寿命试验数据；其中，各组所述寿命试验数据为根据所述敏感应力，分别对相应的各个所述关键元器件进行加速寿命试验，得到各个所述关键元器件对应的所述各组寿命试验数据；

根据各组所述寿命试验数据，获取各所述关键元器件对应的各个可靠性信息；

根据各个所述可靠性信息，利用竞争失效模型获取所述LED驱动电源在典型应用工况下的寿命信息。

2.根据权利要求1所述的获取LED驱动电源寿命信息的方法，其特征在于，根据各组所述寿命试验数据，获取各所述关键元器件对应的各个可靠性信息的步骤，包括：

分别对各个所述关键元器件对应的所述寿命试验数据进行统计分析，获取各个所述关键元器件对应的统计分析结果；

分别对各个所述关键元器件对应的统计分析结果进行可靠性分析，获取各个所述关键元器件对应的所述可靠性信息。

3.根据权利要求2所述的获取LED驱动电源寿命信息的方法，其特征在于，分别对各个所述关键元器件对应的所述寿命试验数据进行统计分析的过程，包括：

对各组所述寿命试验数据依次进行线性拟合、拟合优度检验和显著性检验处理。

4.根据权利要求1所述的获取LED驱动电源寿命信息的方法，其特征在于，所述关键元器件包括晶闸管、整流桥、IC控制芯片、电容和二极管中的任一种。

5.根据权利要求1所述的获取LED驱动电源寿命信息的方法，其特征在于，所述极限应力试验包括温度步进应力试验、电流步进应力试验、湿度步进应力试验、振动步进应力试验或多应力综合步进应力试验。

6.根据权利要求1所述的获取LED驱动电源寿命信息的方法，其特征在于，所述敏感应力包括温度、电流、湿度和振动中的至少一种。

7.一种获取LED驱动电源寿命信息的装置，其特征在于，包括：

第一数据获取模块，用于获取典型应用工况下LED驱动电源的极限应力试验数据；其中，所述极限应力试验数据为根据典型应用工况下LED驱动电源的失效机理及敏感应力，对预定数量的同批次LED驱动电源进行极限应力试验所得的试验数据；

分析识别模块，用于根据所述极限应力试验数据，识别所述LED驱动电源的多个关键元器件及相应的敏感应力；

第二数据获取模块，用于获取各所述关键元器件对应的各组寿命试验数据；其中，各组所述寿命试验数据为根据所述敏感应力，分别对相应的各个所述关键元器件进行加速寿命试验，得到各个所述关键元器件对应的所述各组寿命试验数据；

可靠性获取模块，用于根据各组所述寿命试验数据，获取各所述关键元器件对应的各个可靠性信息；

寿命获取模块，用于根据各个所述可靠性信息，利用竞争失效模型获取所述LED驱动电源在典型应用工况下的寿命信息。

8.根据权利要求7所述的获取LED驱动电源寿命信息的装置，其特征在于，所述可靠性获取模块包括：

统计分析子模块，用于分别对各个所述关键元器件对应的所述寿命试验数据进行统计分析，获取各个所述关键元器件对应的统计分析结果；

可靠信息获取子模块，用于分别对各个所述关键元器件对应的统计分析结果进行可靠性分析，获取各个所述关键元器件对应的所述可靠性信息。

9.一种计算机设备，其特征在于，包括存储器和处理器，所述存储器上存储有可在所述处理器上运行的计算机程序，所述处理器执行所述计算机程序时实现如权利要求1-6任一项所述的获取LED驱动电源寿命信息的方法的步骤。

10.一种计算机可读存储介质，其上存储有计算机程序，其特征在于，所述计算机程序被处理器执行时实现如权利要求1-6任一项所述的获取LED驱动电源寿命信息的方法的步骤。