[发明专利]智能卡的测试系统、测试设备、测试方法在审

专利信息
申请号: 201711387672.2 申请日: 2017-12-20
公开(公告)号: CN108197019A 公开(公告)日: 2018-06-22
发明(设计)人: 张洁;陈超;张志红 申请(专利权)人: 大唐微电子技术有限公司
主分类号: G06F11/36 分类号: G06F11/36;G06F11/26
代理公司: 北京安信方达知识产权代理有限公司 11262 代理人: 孙敬霞;龙洪
地址: 100094*** 国省代码: 北京;11
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摘要:
搜索关键词: 测试 智能卡 测试系统 测试用例库 测试操作 测试设备 测试工具 读写设备 开发周期 语句 配置 维护
【说明书】:

本文公开了一种智能卡的测试系统、测试设备、测试方法,至少能够缩短测试系统中测试用例的开发周期,降低维护成本。上述智能卡的测试系统可包括如下组件:测试用例库,包含基于Python语言的测试用例,所述该测试用例用于实现对智能卡的测试操作;基于Python语言的测试工具,配置为完成如下测试操作以实现对所述智能卡的测试:针对读写设备的操作;Shell中执行APDU指令或Python语句;运行所述测试用例;导入所述测试用例或所述测试用例库。

技术领域

发明涉及智能卡技术领域,尤其涉及一种智能卡的测试系统、测试设备、测试方法。

背景技术

IC卡目前广泛应用于支付(金融、交通)和认证(身份识别、门禁)等领域。IC卡应用的快速发展,对智能卡应用复杂度、安全性要求及机卡兼容性要求日趋提高,因而对智能卡测试系统也提出了更高的要求。

目前智能卡的测试系统一般是由C、C++或java等编译型语言开发而成,测试用例使用C、java等编译型语言或者自定义的脚本语言编写。但使用C、java等编译型语言或者自定义的脚本语言实现的测试系统不仅具有一定的局限性,而且需要用户手动参与,更新、修改都需要重新编译,开发周期长、效率低、维护成本高、时间成本高、操作繁琐,无法满足智能卡测试系统日益增长的测试需求。

发明内容

本申请提供了一种智能卡的测试系统、测试设备、测试方法,至少能够缩短测试系统中测试用例的开发周期,降低维护成本。

本申请提供了如下技术方案。

一种智能卡的测试系统,运行于计算机,所述计算机通过读写设备与智能卡连接,所述测试系统包括如下组件:

测试用例库,包含基于Python语言的测试用例,所述该测试用例用于实现对智能卡的测试操作;

基于Python语言的测试工具,配置为完成如下测试操作以实现对所述智能卡的测试:

导入所述测试用例或所述测试用例库;

运行所述测试用例;

针对读写设备的操作。

其中,所述测试工具,还配置为完成如下测试操作之一或多项:

Shell中执行应用协议数据单元APDU指令或Python语句;

通过Debug模式调试所述测试用例;

脚本显示与编辑;

智能卡测试时的配置项设置;

测试报告的存储与自动生成。

其中,所述测试工具,配置为实现测试报告的存储与自动生成,包括:

在预先设置的测试报告路径下创建测试报告文件;

根据预先设置的配置信息,记录测试信息,形成所述测试报告;

将所述测试报告写入所述测试报告文件。

其中,所述测试报告的内容包括如下之一或多项:发送的APDU指令、智能卡的响应结果、指令执行时间、出错信息、测试项。

其中,所述测试工具,是配置为实现测试报告的存储与自动生成,还包括:在配置为记录错误报告时,在预先设置的测试报告路径下创建错误报告文件,在测试用例执行过程中记录与期望结果不一致的APDU日志信息并写入所述错误报告文件。

其中,所述针对读写设备的操作包括如下之一或多项:

读写设备连接;

读写设备断开;

读写设备列表刷新;

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