[发明专利]开关控制方法和系统、开关控制设备和测试装置

说明书

本发明涉及一种开关控制方法，包括步骤：采集受试设备的电压输入端口的测试电压信号；检测所述测试电压信号的相位值，当所述测试电压信号的相位值为目标相位值时，触发开关控制指令；根据电压信号传输时间和所述受试设备的开关响应时间，对所述开关控制指令进行延时输出；其中，所述电压信号传输时间是所述测试电压信号从电压输入端口传输到受试设备的时间；根据延迟输出的开关控制指令控制所述受试设备的开关。该方案使得受试设备的开关受到开关控制指令的准确控制，克服了传统技术开关控制效率低的问题，提高了受试设备的开关控制效率，进而为提高受试设备的测试效率提供保证。还提供一种开关控制系统、开关控制设备和测试装置。

技术领域

本发明涉及电子设备技术领域，特别是涉及一种开关控制方法和系统、开关控制设备和测试装置。

背景技术

随着电子技术的迅速发展，对电子设备质量的要求越来越高，对电子设备的性能进行全面测试是保证电子设备质量的重要途径。

以电子设备的电磁兼容以及电源特性试验为例，在对受试设备进行电源线瞬态干扰测试时，测试标准要求受试设备的开关能够在各种典型工作状态下进行精准地通断，并能够准确读取该受试设备在开关时刻所产生的尖峰信号幅度最大值等参数。然而测试电压信号的峰值、谷值以零值处对受试设备进行通断电所带来的脉冲干扰是不同的，需要对受试设备的开关进行准确控制。

传统技术提供的方案需要多次接收外部输入的控制指令才能完成受试设备的开关控制，导致开关控制的效率偏低，而且该控制指令通常是借助手动方式进行输入的，手动方式容易受到主观因素的影响，降低开关控制的准确性并导致开关控制的效率下降。

发明内容

基于此，有必要针对传统技术开关控制的效率偏低的问题，提供一种开关控制方法。

一种开关控制方法，包括步骤：

采集受试设备的电压输入端口的测试电压信号；

检测所述测试电压信号的相位值，当所述测试电压信号的相位值为目标相位值时，触发开关控制指令；

根据电压信号传输时间和所述受试设备的开关响应时间，对所述开关控制指令进行延时输出；其中，所述电压信号传输时间是所述测试电压信号从电压输入端口传输到受试设备的时间；

根据延迟输出的开关控制指令控制所述受试设备的开关。

上述开关控制方法通过采集受试设备的电压输入端口的测试电压信号，对测试电压信号的相位值进行检测，在检测到测试电压的相位值为目标相位值时，触发开关指令，并根据电压信号传输时间以及受试设备的开关响应时间对该开关控制指令进行延迟输出，利用延迟输出的开关控制指令控制受试设备的开关。该方案使得受试设备的开关受到延迟输出的开关控制指令的准确控制，克服了传统技术需要多次接收外部指令导致开关控制效率低的问题，提高了受试设备的开关控制效率，进而为提高受试设备的测试效率提供保证。

针对传统技术开关控制的效率偏低的问题，还提供一种开关控制系统，该系统包括：

采集模块，用于采集受试设备的电压输入端口的测试电压信号；

触发模块，用于检测所述测试电压信号的相位值，当所述测试电压信号的相位值为目标相位值时，触发开关控制指令；

延时模块，用于根据电压信号传输时间和所述受试设备的开关响应时间，对所述开关控制指令进行延时输出；其中，所述电压信号传输时间是所述测试电压信号从电压输入端口传输到受试设备的时间；

控制模块，用于根据延迟输出的开关控制指令控制所述受试设备的开关。