[发明专利]一种测量复合材料中垂直金属支撑骨架高度的方法

权利要求书

1.一种测量复合材料中垂直金属支撑骨架高度的方法，其特征在于：所述的方法包括如下步骤：a、检验准备，在探伤室内准备固定式X射线机一台，放置待检测工件，以及与带检测工件对应的参照物专用U型试块及IP板;专用U型试块采用铝合金制成，专用U型试块在方形铝合金块的一侧面设置一个U型凹槽，U型凹槽的宽度与方形铝合金块同宽，U型凹槽的深度占到方形铝合金块长度的1/4-1/3，方形铝合金块的长度为金属骨架长度的两倍；b、在被检测工件表面做标记及标识，放置像质计；c、设置X射线机的摄像倾斜入射角度，设置曝光时间，然后进行曝光；具体来说将专用U型试块放置在需要检测的复合材料一侧，需要将专用U型试块的u型侧面的投影角度和复合材料中的金属骨架投影角度保持一致，以能形成一定的对比关系；通过X射线机产生的射线以一定角度倾斜入射，当骨架高度小于10mm时，倾斜角大于等于45度；当骨架高度大于10mm小于15mm时，倾斜角范围为30-40度，当骨架高度大于15mm小于30mm时，倾斜角范围为18-25度；同一方向透照金属支撑骨架和专用U型试块，而后得到专用U型试块和金属支撑骨架的阴影，对夹层材料中的金属支撑骨架高度进行计算；如果专用U型试块的高度已知为T₁，被检测工件中的金属支撑骨架长度为T₂，使用斜透照，成像图中会产生阴影部分，阴影部分的长度即为专用U型试块的投影长度L₁和金属支撑骨架的投影长度L₂，通过计算公式L₂/L₁=T₂/T₁，可得到金属支撑骨架T₂的值;d、将IP板放入扫描主机读取图像信息，然后将IP板上的图像进行擦除；e、对图像进行显示和后续处理，完成对金属支撑架骨架高度的测量。

2.根据权利要求1所述的一种测量复合材料中垂直金属支撑骨架高度的方法， 其特征在于：a步骤中，对复合在两侧材料之间的金属支架骨架进行检测，检测前应核检受检对象，确认复合材料的厚度；

使用前对IP板进行擦除处理，将准备好的IP板放置于两张增感屏中，确保两张增感屏之间无间隙；按照内部骨架的高度，选择合适高度的专用U型试块，一般试块高度应大于支撑骨架的高度。

3.根据权利要求1所述的一种测量复合材料中垂直金属支撑骨架高度的方法，其特征在于：c步骤中，X射线机产生的射线倾斜入射之前，需要先进行垂直照射复合材料的上表面，通过金属支撑骨架来判断金属支撑骨架的方向性是否正确。