[发明专利]用于介质颗粒物电性能测试的电极测量装置

说明书

本发明公开了一种颗粒物电性能测试的电极测量装置，包括不保护电极、外绝缘环、被保护电极、间隔绝缘环、保护电极和力加载装置，其特征在于，不保护电极和外绝缘环之间形成用于容纳颗粒物的凹槽，凹槽空间内的颗粒物上表面上设置有由间隔绝缘环间隔开的被保护电极和保护电极，保护电极的外圆周紧靠外绝缘环的内圆周，被保护电极的上表面设置有力加载装置。本发明更适合于颗粒物质稳定测量的需要，可定量地施加载荷，颗粒致密程度和接触状态一致性更好且整个测试电极置于真空容器内部，规避了附着气体对测试测量的影响。

技术领域

本发明属于物理参数测试技术领域，具体而言，本发明涉及一种适用于力加载条件下测试颗粒物质电性能的装置。

背景技术

微小颗粒物作为一个整体，其电性能与颗粒间的接触状态密切相关，因此在实际测试颗粒电性能时必须考虑颗粒的受力情况，在稳定的力加载条件下测试其电性能可以在很大程度上规避由于受力不一致导致的测量不确定性，虽然国标GB/T 1410-2006对测试电极装置进行了规定，却并不适用于力加载条件下的颗粒物电性能测量。具体而言，参见图1，国标GB/T 1410-2006公开了一种电极装置，该电极装置包括被保护电极1、保护电极2、试样3、不保护电极4。然而，GB/T 1410-2006使用的测试电极适用于平板试样，若直接用于测试颗粒物质，存在以下缺陷：

1电极侧面及上面未封闭，不能定量地装填颗粒物质；

2颗粒物紧实状态不可调控。

为此，非常有必要提出一种新的用于介质颗粒物电性能测试的电极测量装置，以便能够调控颗粒物的紧实状态。

发明内容

为了解决上述技术问题，本发明的目的是提供一种用于介质颗粒物电性能测试的电极测量装置，该装置基于国标GB/T 1410-2006的电极装置，加装外绝缘环、间隔绝缘环以及力加载装置，使之适应颗粒物电性能测试的需要。

此外，本发明的另一目的在于提供一种具有上述电极测量装置的用于介质颗粒物电性能测试的系统。

本发明采用了如下的技术方案：

颗粒物电性能测试的电极测量装置，包括不保护电极、外绝缘环、被保护电极、间隔绝缘环、保护电极和力加载装置，其特征在于，不保护电极和外绝缘环之间形成用于容纳颗粒物的凹槽，凹槽空间内的颗粒物上表面上设置有由间隔绝缘环间隔开的被保护电极和保护电极，保护电极的外圆周紧靠外绝缘环的内圆周，被保护电极的上表面设置有力加载装置。

其中，被保护电极、间隔绝缘环和保护电极的上表面与外绝缘环平齐。

其中，力加载装置根据颗粒物接触状态的需要加载指定作用力。

其中，外绝缘环选用高绝缘的玻璃或聚四氟乙烯材料。

具有上述电极测量装置的用于介质颗粒物电性能测试的系统，包括真空容器、设置在真空容器内的上述电极测量装置、以及真空容器外的测量装置(相对于现有技术中的GB/T 1410-2006附图2电极装置，本发明加装了外绝缘环和间隔绝缘环，颗粒物试样的外部形状得到了约束，更适合于颗粒物质稳定测量的需要；加装了力加载装置，可以定量地施加载荷，颗粒致密程度和接触状态一致性更好；且整个测试电极置于真空容器内部，可以规避附着气体对测试测量的影响。

附图说明

图1是现有技术中介质颗粒物电性能测试的电极装置示意图；

其中：1-被保护电极；2-保护电极；3-试样；4-不保护电极；

图2a是本发明的颗粒物电性能测试的正视图；

图2b是本发明的颗粒物电性能测试的俯视图；