[发明专利]一种用于行星轴齿宽测量的测量工具有效
| 申请号： | 201711381926.X | 申请日： | 2017-12-20 |
| 公开（公告）号： | CN108332636B | 公开（公告）日： | 2021-08-17 |
| 发明（设计）人： | 张文来 | 申请（专利权）人： | 天津华建天恒传动有限责任公司 |
| 主分类号： | G01B5/02 | 分类号： | G01B5/02 |
| 代理公司： | 天津市北洋有限责任专利代理事务所 12201 | 代理人： | 曹玉平 |
| 地址： | 301822 天津市宝坻区宝坻区*** | 国省代码： | 天津;12 |
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| 摘要： | |||
| 搜索关键词： | 一种 用于 行星 轴齿宽 测量 工具 | ||
【权利要求书】：
1.一种用于行星轴齿宽测量的测量工具，包括主体(1)，其特征在于：所述(1)底部及左右两侧面之间贯穿有卡位固定槽(2)，所述主体(1)顶部中央位置设有内凹槽(3)，所述内凹槽(3)底部贯穿有顶紧螺丝孔(4)，所述的顶紧螺丝孔(4)内设有顶紧螺丝(5)，所述主体(1)顶部在所述内凹槽(3)左右两端设有固定平面(9)，两个固定平面(9)中的其中一个上安装有定位块(6)，所述定位块(6)的外侧面与主体(1)的外侧面平齐，所述的定位块与行星齿轮一端面接触。
2.根据权利要求1所述的一种用于行星轴齿宽测量的测量工具，其特征在于：所述主体(1)外侧面的表面粗糙度Ra为0.8。
3.根据权利要求2所述的一种用于行星轴齿宽测量的测量工具，其特征在于：所述定位块(6)的外侧面与固定平面(9)的垂直度为0.01mm。
4.根据权利要求3所述的一种用于行星轴齿宽测量的测量工具，其特征在于：所述定位块(6)的厚度为20mm。
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