[发明专利]一种用于硅衬底抛光的抛光液及其制备方法有效
申请号: | 201711378324.9 | 申请日: | 2017-12-19 |
公开(公告)号: | CN107936848B | 公开(公告)日: | 2019-12-24 |
发明(设计)人: | 裴亚利;张忆;陈海海 | 申请(专利权)人: | 北京航天赛德科技发展有限公司 |
主分类号: | H01L21/302 | 分类号: | H01L21/302 |
代理公司: | 11303 北京方韬法业专利代理事务所(普通合伙) | 代理人: | 马丽莲 |
地址: | 100000 北京市*** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 用于 衬底 抛光 及其 制备 方法 | ||
1.一种用于硅衬底抛光的抛光液,其特征在于,包括如下重量百分含量的组分:
二氧化硅胶体10-50%
有机碱0.1-2%
氧化剂0.01-0.5%
络合剂0.01-0.2%
适量pH调节剂调节pH值在8.5-11.5,余量为去离子水;
其中,二氧化硅胶体中的二氧化硅颗粒粒径40-150nm,比表面积与粒径存在如下关系:S/DS2=0.0020-0.0675,S以m2/g,DS为二氧化硅胶体颗粒的平均粒径,以纳米计。
2.根据权利要求1所述的用于硅衬底抛光的抛光液,其特征在于,包括如下重量百分含量的组分:
二氧化硅胶体35-40%
有机碱0.5-1%
氧化剂0.05-0.1%
络合剂0.05-0.1%
适量pH调节剂调节pH值在9.5-10.5,余量为去离子水。
3.根据权利要求1或2所述的用于硅衬底抛光的抛光液,其特征在于,所述二氧化硅胶体中的二氧化硅颗粒粒径80-110nm,比表面积与粒径存在如下关系:S/DS2=0.0020-0.0100。
4.根据权利要求1所述的用于硅衬底抛光的抛光液,其特征在于,所述有机碱采用胺基化合物。
5.根据权利要求4所述的用于硅衬底抛光的抛光液,其特征在于,所述胺基化合物采用氨基醇化合物、多氨基化合物、四甲基氢氧化铵中的一种或多种。
6.根据权利要求1所述的用于硅衬底抛光的抛光液,其特征在于,所述氧化剂采用过硫酸钠、过硫酸钾、双氧水、高氯酸盐、次氯酸盐、二氯异氰尿酸钠、硝酸钠、硝酸铵及有机过氧化物中的一种或多种。
7.根据权利要求1所述的用于硅衬底抛光的抛光液,其特征在于,所述络合剂采用乙二胺四乙酸二钠、四甲基氯化铵中的一种或多种。
8.根据权利要求1所述的用于硅衬底抛光的抛光液,其特征在于,所述pH调节剂采用pH酸性调节剂或pH碱性调节剂,所述pH酸性调节剂采用盐酸、硝酸、草酸、柠檬酸、磷酸、硫酸中的任一种,所述pH碱性调节剂采用无机碱,所述无机碱采用氢氧化钠、氢氧化钾、碳酸钠中的任一种。
9.权利要求1-8任一项所述的用于硅衬底抛光的抛光液的制备方法,其特征在于,搅拌条件下,依次向二氧化硅胶体水溶液中加入有机碱、氧化剂、络合剂,最后用pH调节剂调整pH值,补足去离子水调节含量。
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