[发明专利]一种CMP抛光液及其在GaAs晶片抛光中的应用在审
申请号: | 201711376766.X | 申请日: | 2017-12-19 |
公开(公告)号: | CN108034360A | 公开(公告)日: | 2018-05-15 |
发明(设计)人: | 王乐军;宋士佳;李琳琳;刘桂勇;姜宏;彭东阳 | 申请(专利权)人: | 北京创昱科技有限公司 |
主分类号: | C09G1/02 | 分类号: | C09G1/02;B24B29/02;B24B57/00 |
代理公司: | 北京路浩知识产权代理有限公司 11002 | 代理人: | 王莹;吴欢燕 |
地址: | 102209 北京市*** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 cmp 抛光 及其 gaas 晶片 中的 应用 | ||
1.一种CMP抛光液,其特征在于,每100重量份的抛光液中,包括磨料0.1~50份、表面活性剂0.001~0.4份、成膜剂0.001~0.6份、pH值调节剂0.05~10份、抛光促进剂0.01~4份、余量为去离子水;抛光液pH值范围为9.5~12.5。
2.根据权利要求1所述的抛光液,其特征在于,每100重量份的抛光液中,包括磨料1~45份、表面活性剂0.005~0.2份、成膜剂0.02~0.4份、pH值调节剂0.1~8份、抛光促进剂0.05~2份、余量为去离子水,抛光液pH值范围为10~12。
3.根据权利要求1或2所述的抛光液,其特征在于,所述磨料为硅溶胶、铝溶胶、锆溶胶、铈溶胶和钛溶胶中的一种或几种组合。
4.根据权利要求3所述的抛光液,其特征在于,所述溶胶中磨料的粒径范围为5nm~150nm,所述溶胶的pH值为8~10;优选的,所述溶胶中磨料的粒径范围为10nm~100nm。
5.根据权利要求1或4所述的抛光液,其特征在于,所述表面活性剂为烷基酚聚氧乙烯醚、脂肪醇聚氧乙烯醚、脂肪酸聚氧乙烯酯、聚丙二醇的环氧乙烷加成物、失水山梨醇酯、吐温或烷基醇酰胺中的一种或几种组合;
优选的,所述表面活性剂为辛基酚聚氧乙烯醚、脂肪醇聚氧乙烯醚、烯丙基聚氧乙烯聚氧丙烯环氧基醚、月桂酸二乙醇酰胺、吐温或脂肪酸聚氧乙烯酯。
6.根据权利要求1或5所述的抛光液,其特征在于,所述成膜剂为纤维素醚类、丙烯酸共聚物、聚乙烯类共聚物、烃类共聚物或有机硅聚合物中的一种或几种组合,或是其相互改性的品种;
优选的,所述成膜剂为丙烯酸-丙烯酸羟丙酯共聚物、羧甲基羟乙基纤维素、羟乙基羧甲基纤维素、聚乙烯乙二醇或水溶性硅油。
7.根据权利要求1或6所述的抛光液,其特征在于,所述pH值调节剂为氢氧化物、碱性无机盐或伯胺、叔胺、季铵碱、亚胺中的一种或几种组合;
优选氨水、碳酸钠、三乙醇胺、甲胺、四甲基氢氧化铵、碳酸钠与四甲基氢氧化铵的组合物或甲胺与六次甲基四胺的组合物。
8.根据权利要求1或7所述的抛光液,其特征在于,所述抛光促进剂为高铁酸盐、过硫酸盐、高锰酸盐、重铬酸盐、高氯酸盐、次氯酸盐和高碘酸盐中的一种或几种组合;优选上述化合物的钠盐或钾盐。
9.权利要求1~8任一项所述的抛光液在GaAs晶片抛光中的应用。
10.根据权利要求9所述的应用,其特征在于,所述抛光液在抛光的过程中多次重复使用。
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