[发明专利]射频成像设备的基于光学传感器的位置感测在审
申请号: | 201711373438.4 | 申请日: | 2017-12-19 |
公开(公告)号: | CN108204787A | 公开(公告)日: | 2018-06-26 |
发明(设计)人: | J.里德;D.B.伦茨;D.普拉巴卡;M.F.施米德特 | 申请(专利权)人: | 弗兰克公司 |
主分类号: | G01B11/02 | 分类号: | G01B11/02 |
代理公司: | 中国专利代理(香港)有限公司 72001 | 代理人: | 黄涛;申屠伟进 |
地址: | 美国华*** | 国省代码: | 美国;US |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 成像设备 光学位置传感器 光学传感器 位置感测 射频 倾斜度 方法和装置 检测 处理器 存储器 耦接 捕获 关联 图像 | ||
1.一种射频(RF)成像设备,包括:
RF传感器组件,所述RF传感器组件被配置为接收用于捕获被设置在表面后方的空间的一部分的RF图像的RF信号并输出用于表示所述RF信号的数据;
光学位置传感器组件,所述光学位置传感器组件至少包括第一光学位置传感器和第二光学位置传感器,其中每个光学位置传感器被设置在所述RF成像设备上的不同位置处,并且其中每个光学位置传感器被配置为检测所述相应光学位置传感器的位移并输出用于表示所检测到的位移的相应数据;
存储器;和
处理器,所述处理器被配置为:
接收用于表示所述RF信号的所述数据;
至少部分地基于表示所述RF信号的所述数据来确定所述RF图像;
接收用于表示所述第一光学位置传感器和所述第二光学位置传感器的所检测到的位移的所述数据;
至少部分地基于表示所检测到的位移的所述数据来确定所述RF成像设备的位置和倾斜度两者;并且
在所述存储器中使所述RF成像设备的所述位置和所述倾斜度与所确定的RF图像相关联。
2.根据权利要求1所述的RF成像设备,其中所述处理器被配置为通过以下操作来确定所述RF成像设备的所述位置:
识别所述RF成像设备的先前位置;
识别所述第一光学位置传感器的第一位移和所述第二光学位置传感器的第二位移;并且
通过基于所识别的第一位移和第二位移使所述先前位置偏移来确定所述RF成像设备的所述位置。
3.根据权利要求1所述的RF成像设备,其中所述处理器被配置为通过以下操作来确定所述RF成像设备的所述倾斜度:
识别所述第一光学位置传感器和所述第二光学位置传感器中的每一者的先前位置;
通过使所述光学位置传感器的所述先前位置偏移所述光学位置传感器的相应的所检测到的位移针对所述第一光学位置传感器和所述第二光学位置传感器中的每一者来确定所述相应光学位置传感器的当前位置;并且
基于所述第一光学位置传感器和所述第二光学位置传感器中的每一者的所述当前位置和所述先前位置之间的差异来确定所述RF成像设备的所述倾斜度。
4.根据权利要求1所述的RF成像设备,其中所述倾斜度为相对于位于由所述表面限定的平面中的轴的角度。
5.根据权利要求1所述的RF成像设备,其中所述处理器被配置为:
确定在相应多个位置处并且以所述RF成像设备的相应多个倾斜度捕获的多个RF图像;并且
基于所述多个RF图像、所述相应多个位置、以及所述相应多个倾斜度来组合所述表面后方的所述空间的全景RF图像。
6.根据权利要求5所述的RF成像设备,其中所述处理器被配置为通过以下操作来组合所述全景RF图像:
使所述多个RF图像分别倾斜所述多个倾斜度;并且
根据所述多个位置而分别对所述多个倾斜的RF图像进行整理。
7.根据权利要求1所述的RF成像设备,其中所述处理器被配置为:
将所述第一光学位置传感器和所述第二光学位置传感器的所检测到的位移缩放某个缩放系数。
8.根据权利要求7所述的RF成像设备,其中所述缩放系数至少部分地
基于所述表面的表面类型和由所述第一光学位置传感器或所述第二光学位置传感器报告的所述表面的图像的信噪比(SNR)中的至少一者。
9.根据权利要求1所述的RF成像设备,其中所述第一光学位置传感器或所述第二光学位置传感器包括被配置为在不使用透镜的情况下捕获所述光学传感器的感测场中的对象的图像的光学传感器。
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