[发明专利]射频性能测试方法、装置及可读存储介质有效
申请号: | 201711367859.6 | 申请日: | 2017-12-18 |
公开(公告)号: | CN109936416B | 公开(公告)日: | 2021-08-24 |
发明(设计)人: | 詹松龄;林晓;陈军;杨亚西 | 申请(专利权)人: | 北京小米松果电子有限公司 |
主分类号: | H04B17/15 | 分类号: | H04B17/15;H04B17/29 |
代理公司: | 北京英创嘉友知识产权代理事务所(普通合伙) 11447 | 代理人: | 魏嘉熹;南毅宁 |
地址: | 100085 北京市*** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 射频 性能 测试 方法 装置 可读 存储 介质 | ||
1.一种射频性能测试方法,其特征在于,应用于第一用户设备UE,所述方法包括:
在免授权频段建立与第二UE之间的点对点连接;
向所述第二UE发送用于测试所述第二UE的接收性能的接收性能测试信令;
接收所述第二UE发送的测试开始指令,所述测试开始指令表征所述第二UE处于在第一指定频点上接收所述第一UE发射的第一测试信号的预备状态,所述第一指定频点为接收性能测试信令中包括的频点所对应的频段;
在所述免授权频段的所述第一指定频点上发射第一测试信号;
接收所述第二UE发送的接收性能测试结果,所述接收性能测试结果是所述第二UE根据在所述第一指定频点上接收到的第一测试信号生成的。
2.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,接收所述第二UE发送的接收性能测试结果,包括:
接收所述第二UE发送的用于表征所述第二UE的接收性能的接收性能信令,所述接收性能信令是所述第二UE根据接收到的第一测试信号生成的。
3.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,在接收所述第二UE发送的接收性能测试结果之后,所述方法还包括:
接收所述第二UE发送的退出测试指令,所述退出测试指令是所述第二UE在生成所述接收性能测试结果之后生成的。
4.一种射频性能测试方法,其特征在于,应用于第一用户设备UE,所述方法包括:
在免授权频段建立与第二UE之间的点对点连接;
向所述第二UE发送用于测试所述第二UE的发射性能的发射性能测试信令;
在第二指定频点上接收所述第二UE在所述第二指定频点上发射的第二测试信号,所述第二指定频点为所述发射性能测试信令 中包含的频点;
根据接收到的第二测试信号,生成用于表征所述第二UE的发射性能的发射性能测试结果。
5.一种射频性能测试方法,其特征在于,应用于第二用户设备UE,所述方法包括:
在免授权频段建立与第一UE之间的点对点连接;
接收所述第一UE发送的用于测试所述第二UE的接收性能的接收性能测试信令;
切换到在第一指定频点上接收所述第一UE发射的第一测试信号的预备状态,所述第一指定频点为接收性能测试信令中包括的频点所对应的频段;
向所述第一UE发送测试开始指令,所述测试开始指令用于触发所述第一UE在所述第一指定频点上发射第一测试信号;
在所述免授权频段的所述第一指定频点上接收所述第一UE在所述第一指定频点上发射的第一测试信号;
根据在所述第一指定频点上接收到的第一测试信号,生成用于表征所述第二UE的接收性能的接收性能测试结果。
6.根据权利要求5所述的方法,其特征在于,在生成用于表征所述第二UE的接收性能的接收性能测试结果之后,所述方法还包括:
向所述第一UE发送用于表征所述第二UE的接收性能的接收性能信令,所述接收性能信令用于表征所述接收性能测试结果。
7.根据权利要求5所述的方法,其特征在于,在生成用于表征所述第二UE的接收性能的接收性能测试结果之后,所述方法还包括:
向所述第一UE发送退出测试指令。
8.一种射频性能测试方法,其特征在于,应用于第二用户设备UE,所述方法包括:
在免授权频段建立与第一UE之间的点对点连接;
接收所述第一UE发送的用于测试所述第二UE的发射性能的发射性能测试信令;
在免授权频段的第二指定频点上发射第二测试信号,所述第二指定频点为所述发射性能测试信令 中包含的频点;
接收所述第一UE发送的发射性能测试结果,所述发射性能测试结果是所述第一UE根据在所述第二指定频点上接收到的第二测试信号生成的。
9.一种射频性能测试装置,其特征在于,所述装置包括:
处理器;
用于存储处理器可执行指令的存储器;
其中,所述处理器被配置为:执行实现权利要求1-3中任一项所述方法的步骤。
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