[发明专利]一种量子点及其制备方法在审
申请号: | 201711363565.6 | 申请日: | 2017-12-18 |
公开(公告)号: | CN109929558A | 公开(公告)日: | 2019-06-25 |
发明(设计)人: | 杨一行;聂志文 | 申请(专利权)人: | TCL集团股份有限公司 |
主分类号: | C09K11/88 | 分类号: | C09K11/88;C09K11/02;B82Y20/00;B82Y30/00;B82Y40/00 |
代理公司: | 深圳市君胜知识产权代理事务所(普通合伙) 44268 | 代理人: | 王永文;刘文求 |
地址: | 516006 广东省*** | 国省代码: | 广东;44 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | |||
搜索关键词: | 量子点 半导体壳 包覆 第二金属层 第一金属层 核表面 金属元素 金属层 键合 制备 尺寸均匀性 量子点材料 表面缺陷 发光效率 金属原子 晶格失配 晶体结构 有效地 钝化 核壳 活化 减小 配体 纽带 生长 | ||
本发明公开一种量子点及其制备方法,其中,所述量子点包括量子点核,包覆量子点核的第一金属层,包覆第一金属层的第一半导体壳层,包覆所述第一半导体壳层的第二金属层,包覆第二金属层的第二半导体壳层;其中,所述第一金属层中的金属元素和第二金属层中的金属元素独立地选自Zn、Hg、Al、Ga和In中的一种或多种。金属层能够以量子点核表面的配体作为连接纽带,与量子点核相键合,促使量子点核表面活化,有利于进一步的量子点外半导体壳层生长反应;同时金属层中的金属原子与量子点核通过上述键合所形成的晶体结构,能够有效地钝化量子点核表面、减少其表面缺陷并减小核壳之间的晶格失配,从而增强量子点材料的发光效率和尺寸均匀性。
技术领域
本发明涉及量子点技术领域,尤其涉及一种量子点及其制备方法。
背景技术
量子点是一种在三个维度上均被限制在纳米数量级的特殊材料,这种显著的量子限域效应使得量子点具有了诸多独特的纳米性质,如发射波长连续可调、发光波长窄、吸收光谱宽、发光强度高、荧光寿命长以及生物相容性好等。这些特点使得量子点材料在生物标记、平板显示、固态照明、光伏太阳能等领域均具有广泛的应用前景。
量子点的尺寸通常在20nm以下,因此量子点材料的比表面积非常大,量子点的表面特性和性质对于量子点的性能影响非常显著。量子点表面存在着大量的悬挂键,这些悬挂键中一部分连接着反应过程中所加入的有机配体(例如有机胺类、有机羧酸类、有机磷、硫醇等),另一部分则暴露于外界环境,容易与外界环境发生反应,同时暴露的悬挂键会在能带隙中形成缺陷态和缺陷能级,这也是造成非辐射跃迁损失并导致量子点发光效率降低的重要原因。因此,为了提高量子点的发光效率,需要尽可能地消除量子点表面暴露的悬挂键。现有技术通常采用两种方法来消除量子点表面暴露的悬挂键,从而有效钝化量子点:一是通过在暴露的悬挂键上连接有机配体;二是通过在暴露的悬挂键外继续生长无机外半导体壳层。因此制备具有核壳结构的量子点已经成为实现量子点优异光学性能所普遍采用的方案。
当前用于光电领域的半导体胶体量子点大多是通过金属有机物热分解合成法来制备的。在这种方法中,阴离子的前驱体和第一金属前驱体的反应体系在高温下达到反应物的瞬间过饱和,从而发生短时间内的成核反应和后续的生长反应,最终形成具有良好尺寸单分布性的量子点。
在光电领域的半导体量子点材料体系中,无镉量子点由于不仅具有量子点优异的发光特性且同时不含重金属镉(Cd)的特点而越来越受到关注。但在发光效率和发光纯度(即发光峰宽度)等光电应用中非常重要的指标比较中,无镉量子点的性能还是会显著落后于经典的含镉量子点体系(如CdSe)。无镉量子点的制备目前普遍采用的是与含镉量子点类似的金属有机物热分解热注入法,在量子点结构设计上也同样采用核壳结色来提高无镉量子点的发光效率和材料稳定性。但是由于无镉量子点核、制备所使用的前驱体种类和活性等方面与含镉量子点所存在的差异,使得无镉量子点在核壳结构体系的形成中要想实现更少晶体缺陷、更均匀尺寸分布等要求会变得更加困难,这也是造成目前无镉量子点的性能要大大落后于含镉量子点体系的主要原因。
因此,现有技术还有待于改进和发展。
发明内容
鉴于上述现有技术的不足,本发明的目的在于提供一种量子点及其制备方法与应用,旨在解决现有无镉量子点材料的发光效率较低的问题。
本发明的技术方案如下:
一种量子点,其中,所述量子点包括量子点核,包覆所述量子点核的金属层,包覆所述金属层的半导体壳层,其中,所述金属层中的金属元素选自Zn、Hg、Al、Ga和In中的一种或多种。
所述的量子点,其中,所述量子点核的材料选自III-V族半导体材料或III-V族半导体材料与II-VI族半导体材料所组成的合金半导体材料。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于TCL集团股份有限公司,未经TCL集团股份有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/201711363565.6/2.html,转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇:一种复合膜及其制备方法与应用
- 下一篇:一种量子点及其制备方法