[发明专利]一种数模转换器的熔丝修调测试方法

说明书

本发明涉及一种数模转换器的熔丝修调测试方法，电路初始状态(修调前)参数测试、修调点输出电压测试统计及修调码计算、熔丝烧写和修调后精度验证。低位精度测试、修调点输出电压测试统计及修调码计算。首先对低7位精度进行测试根据低位的精度结果判断该颗芯片是否为可修调芯片；如果低位满足精度要求，根据修调点输出电压测试的工作条件和时序特性，对测试电路的修调点进行电压采样，并计算平均输出电压，保证修调点输出电压的稳定性；根据修调点的输出电压采样结果完成修调码的计算。

技术领域

本发明属于集成电路测试方法领域，具体说是基于美国泰瑞达公司J750集成电路测试系统和UF190R探针台，研制数模转换器的熔丝修调测试方法设计，满足该类电路的精度需求。

背景技术

数模转换器广泛应用于无线电、雷达、数字通信、测控、仪器仪表等领域的各类电子电路中。对该类器件各项参数进行准确的测试，不仅保证了产品的质量，还为数模转换器的电路设计提供数据支撑。随着电子技术的飞速发展，数模转换器也在向着高速高精度方向不断发展，伴随这一发展趋势的是对其测试方法和测试手段的要求越来越高。因此，探索高精度数模转换器测试技术具有十分重要的意义。

对于精度较高的电路，在电路设计阶段无法保证精度需求，必须在封装成成品电路前进行熔丝修调，使其满足精度要求。此发明可以适用于某12位可修调数模转换器电路的熔丝修调和测试。

发明内容

针对上述技术不足，本发明的目的是对某12位可俢调电压输出数模转换芯片进行熔丝修调测试方法设计，以达到提高芯片精度的要求。

本发明解决其技术问题所采用的技术方案是：一种数模转换器电路的熔丝修调测试方法，包括以下步骤：

1)设置各信号的输入条件，并根据时序编制测试图形对电路进行零点误差、增益误差静态参数测试；

2)测试电路开关单独开启时的芯片输出电压，记录为B0～B12；如果B1～B7分别与B0的差值均小于设定电压值，那么该芯片符合熔丝修调条件，进行下一步骤；否则不满足修调条件，记为不合格芯片；

3)将B8～B12与对应的理论值比较并计算差值，并求其最小值；以该最小值为基点，将其它各位与该基点进行差值计算，得到相对修调量；依据电路的后仿真结果对相对修调量进行编码，查找最接近上面计算的相对变化量对应的编码，定位需要修调的熔丝位置；根据待烧熔丝的位置，完成熔丝烧写工作。

所述依据电路的后仿真结果对相对修调量进行编码，查找最接近上面计算的相对变化量对应的编码，定位需要修调的熔丝位置，根据待烧熔丝的位置；完成熔丝烧写工作包括以下步骤：

依据仿真表得到对应的修调码；

首先将修调码转换为二进制形式，即为b5-b0的值；

然后选择b5-b0中数值为“1”的一位，根据译码器的输入输出的对应关系，查找出对应的a2-a0的信息，依据该信息将a2-a0数值为“1”的位进行上电操作，这样对应的熔丝就烧断了；直到将b5-b0中数值为“1”的熔丝全部烧断。

用于12位可俢调电压输出数模转换芯片的修调测试。

本发明具有以下有益效果及优点：

1.本发明为数模转换器的熔丝修调测试方法，具有性能稳定、修调精度高、可靠性强等特点；。

2.本发明在熔丝修调测试程序设计阶段，充分考虑每根熔丝烧写后电阻的变化，优化修调算法，保证每根熔丝烧写的可控性和可追踪性。

附图说明

图1是电路熔丝修调和参数测试设计的框图；

图2是电路各信号之间的时序波形图；

图3是电路熔丝修调过程流程图。