[发明专利]一种晶体频率的校准系统有效
| 申请号: | 201711361273.9 | 申请日: | 2017-12-18 | 
| 公开(公告)号: | CN108123716B | 公开(公告)日: | 2021-04-27 | 
| 发明(设计)人: | 陆舟;于华章 | 申请(专利权)人: | 飞天诚信科技股份有限公司 | 
| 主分类号: | H03L7/18 | 分类号: | H03L7/18 | 
| 代理公司: | 暂无信息 | 代理人: | 暂无信息 | 
| 地址: | 100085 北京市*** | 国省代码: | 北京;11 | 
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| 摘要: | |||
| 搜索关键词: | 一种 晶体 频率 校准 系统 | ||
本发明提供了一种晶体频率的校准系统,属于电子技术领域。本发明提供的晶体频率的校准系统包括至少一个校准装置和至少一个写入装置;校准装置包括第一感应电路、放大滤波电路、校准主控电路。本发明提供的校准系统通过第一感应电路采集晶体信号,不需要采集探针,PCB板上也不需要设置采集探点,有效节省PCB板空间并减少额外的设备。
技术领域
本发明涉及电子技术领域,尤其涉及一种晶体频率的校准系统。
背景技术
多数电子产品中都具有晶体,而电子产品中晶体的频率往往与电子产品的标准晶体频率(以时间型的动态令牌为例,标准晶体频率为32768Hz)存在偏差,现有技术中常常由于晶体频率的偏差导致电子产品在工作中出错,甚至会导致电子产品无法工作或者报废。例如,时间型的动态令牌要求时间漂移每年不能超过预设的时间,当时间漂移超过预设的时间时动态令牌产生的动态口令将无法在后台验证通过,即动态令牌无法继续正常工作。因此在制作电子产品过程中需要对电子产品的晶体频率进行测量并校准。
现有技术中,晶体频率的校准方法涉及到被测产品(被测产品即为电子产品)晶体频率的采集和频率补偿值的写入,需要在半成品阶段的(即在被测产品封装外壳之前)被测产品的PCB板上设置至少两个探点(包括采集被测产品晶体频率的采集探点和写入频率补偿值的写入探点),需要至少两个探针(采集晶体频率的采集探针和写入频率补偿值的写入探针)与校准主机连接。现有技术中的校准方法是:人工手动将采集探针与被测产品PCB板上的采集探点接触获取被测产品的晶体频率,校准主机将获取的晶体频率与标准晶体频率进行运算得出频率补偿值,再将写入探针与PCB板上的写入探点对位接触,通过写入探针与PCB板上的写入探点接触将计算得到的频率补偿值写入被测产品的主控芯片中。现有技术的晶体频率的校准方法,只能对单个被测产品的晶体频率进行采集和频率补偿值的写入。
现有技术中的晶体频率的校准方法存在以下缺陷:需要在被测产品的PCB板上设置探点,浪费PCB板的有限空间;校准时只能对单个被测产品的晶体进行校准,校准效率低;由于需要探针与PCB板上的探点接触,必须在封装外壳之前(即半成品阶段)执行晶体频率的校准;当成品阶段的被测产品需要重新校准晶体频率时,必须将外壳拆除才能执行晶体频率的校准,校准完成后还要重新安装,重新安装的被测产品报废率相应提高,并且拆除外壳、重新安装外壳的操作费时费力;校准主机与被测产品的数据通讯需要具备探针以及探针与校准主机的连线,增加额外的设备;校准过程需要人工手动操作将采集探针与采集探点对位接触、将写入探针与写入探点对位接触,进行两次对位操作,一旦有一次对位不准就会写入失败,需要重新操作,校准效率低。
发明内容
本发明为解决上述现有技术中存在的技术问题提供一种晶体频率的校准系统。
本发明提供的一种晶体频率的校准系统,包括至少一个校准装置和至少一个写入装置;所述校准装置包括第一感应电路、放大滤波电路、校准主控电路;
所述第一感应电路,与所述放大滤波电路连接,用于采集被测产品的晶体信号,将所述晶体信号发送给所述放大滤波电路;
所述放大滤波电路,与所述第一感应电路和所述校准主控电路连接,用于接收来自所述第一感应电路的所述晶体信号,对所述晶体信号进行放大、滤波得到放大滤波信号,将所述放大滤波信号发送给所述校准主控电路;
所述校准主控电路,与所述放大滤波电路、所述写入装置和卫星信号接收机连接,用于接收来自所述放大滤波电路的所述放大滤波信号,根据所述放大滤波信号和预设值得到系统时钟的第一计数值;用于接收来自所述卫星信号接收机的标准秒信号,根据所述标准秒信号得到系统时钟的第二计数值;用于根据所述系统时钟的第一计数值和所述系统时钟的第二计数值得到频率补偿值,将所述频率补偿值发送给所述写入装置;
所述写入装置,与所述校准主控电路连接,用于接收来自所述校准主控电路的所述频率补偿值,将所述频率补偿值写入所述被测产品。
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