[发明专利]一种复位时间自适应的复位检测电路有效

专利信息
申请号: 201711359492.3 申请日: 2017-12-17
公开(公告)号: CN108319352B 公开(公告)日: 2021-03-05
发明(设计)人: 李鑫;朱天成;候俊马;张楠;仇旭东;王旭 申请(专利权)人: 天津津航计算技术研究所
主分类号: G06F1/24 分类号: G06F1/24;G06F11/07
代理公司: 天津翰林知识产权代理事务所(普通合伙) 12210 代理人: 王瑞
地址: 300300 天津市*** 国省代码: 天津;12
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要:
搜索关键词: 一种 复位 时间 自适应 检测 电路
【说明书】:

发明公开了一种复位时间自适应的复位检测电路,该电路包括复位状态采集模块、可编程逻辑器件、复位宽度采样反馈模块和RC阵列模块;所述RC阵列模块由n个RC阵列组成;所述可编程逻辑器件分别与复位状态采集模块、复位宽度采样反馈模块和RC阵列模块连接;所述复位状态采集模块、复位宽度采样反馈模块和RC阵列模块均与系统内部器件连接。通过对系统电路的复位状态进行采集,根据复位状态决定是否需要对复位时间进行调整,并根据当前复位时间状态选择合适的RC配比,对复位时间自动进行补偿和动态调整,直到系统达到一个稳定的状态,解决了电路系统在不同环境条件下对于复位时间需求有所变化时系统不能实时动态调整系统复位时间宽度的问题。

技术领域

本发明涉及电路领域,具体是一种复位时间自适应的复位检测电路。

背景技术

复位时间自适应的自动复位检测电路是为了解决电路系统外部环境条件变化下,对于复位时间长度产生变化的情况系统无法自动适应并无法对复位时间长度进行调整的问题。在大多数需要复位的电路中,核心器件的上电复位信号通常采用RC复位,设计人员通过选用不同的电阻和电容来产生相应的时间常数,产生相应宽度的复位信号。但是随着外部条件的变化如温度的升高和降低、电源品质的变化和上电时间的变化等,系统需要的复位时间也会随之相应变化。但是RC复位电路却不能随着条件变化做出调整,在一定条件下,有可能导致RC的复位时间不能满足系统需求的复位时间,造成系统复位失败,对于整个电路系统的稳定性产生严重的影响。

通常解决系统复位信号宽度不够的方式是提高复位宽度裕量,设计人员在进行系统设计时对未来可能存在的情况进行预估,采用一个较大的复位时间宽度作为整个系统的复位时间。这种方式在一定情况下可行,但是如果存在着某种设计人员没有考虑到的条件,所设定的复位宽度就存在着一定的风险。此外,增加复位裕量意味着复位时间通常较长,对于提高系统性能也存在着一定的束缚。

因此,采用传统预估的方法往往达不到最优化的系统复位的效果。需要利用一种灵活的、动态的复位时间调整方法来对系统中的复位时间在不同外部条件环境下的复位宽度进行动态调节,确保系统工作稳定。

发明内容

针对现有技术的不足,本发明拟解决的技术问题是,提供一种复位时间自适应的复位检测电路。

本发明解决所述技术问题的技术方案是,提供一种复位时间自适应的复位检测电路,其特征在于该电路包括复位状态采集模块、可编程逻辑器件、复位宽度采样反馈模块和RC阵列模块;所述RC阵列模块由n个RC阵列组成;所述可编程逻辑器件分别与复位状态采集模块、复位宽度采样反馈模块和RC阵列模块连接;所述复位状态采集模块、复位宽度采样反馈模块和RC阵列模块均与系统内部器件连接。

与现有技术相比,本发明有益效果在于:

1.通过对系统电路的复位状态进行采集,根据复位状态决定是否需要对复位时间进行调整,并根据当前复位时间状态选择合适的RC配比,对复位时间自动进行补偿和动态调整,直到系统达到一个稳定的状态,增加系统电路的可靠性,解决了电路系统在不同环境条件下对于复位时间需求有所变化时系统不能实时动态调整系统复位时间宽度的问题。

2.可以在不改动系统硬件电路设计的情况下根据外部条件变化和系统实际的复位信号宽度进行实时复位时间调整,采用专门的算法将二者结合起来,使得复位时间的调整更加精确,根本上解决了由于系统条件变化导致系统复位不稳定引起的电路重新改版的问题,能够有效地节省了成本。

3.该电路可以封装成为一个标准通用模块,在设计时加入电路之中而不用进行重新设计,具有很好的可重用性;

4.该模块采用了可编程逻辑器件作为算法的实现载体,能够根据使用者的需求加载不同的算法,采用新的算法时不用重新进行模块的电路设计,之需要将新的算法加载到芯片中即可,使用十分灵活方便;

5.该模块完全由硬件实现,不需要处理器即可实现系统复位时间的动态调整,在一定程度上节省了时间和成本。

下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于天津津航计算技术研究所,未经天津津航计算技术研究所许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/201711359492.3/2.html,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top