[发明专利]量子点表面配体含量的测定方法与量子点墨水配制方法

权利要求书

1.一种量子点墨水的配置方法，其特征在于，包括：

提供样品颗粒，所述样品颗粒中的单个颗粒包括量子点和结合在所述量子点表面的含磷的有机配体，所述量子点中不含磷元素，所述有机配体为一种或多种，当所述有机配体为多种时，各所述有机配体之间的摩尔分子质量相差不超过5％；

分别测定不同批次的所述样品颗粒的表面配体含量；

选定其中一个批次样品颗粒作为基准批次样品颗粒；

当其它一批次样品颗粒表面配体含量与所述基准批次样品颗粒的表面配体含量相差不超过10％时，将所述其它一批次样品颗粒用于配置墨水；

当其它一批次样品颗粒表面配体含量与所述基准批次样品颗粒的表面配体含量相差超过10％时，将所述其它一批次样品颗粒表面配体含量调节至与所述基准批次样品颗粒的表面配体含量相差在10％之内后，将调节表面配体含量后的所述其它一批次样品颗粒用于配置墨水；

其中，所述将所述其它一批次样品颗粒用于配置墨水，包括：所述其它一批次样品颗粒直接用于配置墨水；或者所述其它一批次样品颗粒与其它若干满足与所述基准批次样品颗粒的表面配体含量相差不超过10％的样品颗粒混合用于配置墨水；

所述将调节表面配体含量后的所述其它一批次样品颗粒用于配置墨水，包括：所述其它一批次样品颗粒直接用于配置墨水；或者所述其它一批次样品颗粒与其它若干满足与所述基准批次样品颗粒的表面配体含量相差不超过10％的样品颗粒混合用于配置墨水；

所述分别测定不同批次的所述样品颗粒的表面配体含量，包括：

提供样品颗粒；

运用电感耦合等离子体原子发射光谱分析仪测定到有机配体中P元素与样品颗粒的质量比，计为量子点表面配体含量。

2.根据权利要求1所述的量子点墨水的配置方法，其特征在于，基准批次颗粒的表面配体含量记为ω₁，当其它一批次样品颗粒表面配体含量ω₂高于110％ω₁时，通过去配体的方法，降低所述其它一批次样品颗粒表面配体含量，所述去配体的方法包括：将所述其它一批次样品颗粒与无机酸溶液混合，脱去所述其它一批次样品颗粒表面的配体。

3.根据权利要求2所述的量子点墨水的配置方法，其特征在于，所述的无机酸溶液选自盐酸溶液、硝酸溶液或硫酸溶液；

和/或所述无机酸溶液的体积浓度为1.25％～5％；

和/或所述无机酸溶液中的溶剂为水、甲醇或乙醇。

4.根据权利要求2所述的量子点墨水的配置方法，其特征在于，按所述无机酸的物质的量为m_Q(ω₂-110％ω₁)/M_l～m_Q(ω₂-90％ω₁)/M_l，将所述其它一批次样品颗粒与无机酸溶液混合，其中，m_Q为所述其它一批次样品颗粒的质量，M_l为P的摩尔分子质量。

5.根据权利要求1所述的量子点墨水的配置方法，其特征在于，不同批次的所述样品颗粒通过同一制备过程制备得到。

6.根据权利要求1所述的量子点墨水的配置方法，其特征在于，运用电感耦合等离子体原子发射光谱分析仪测定到有机配体中P元素与样品颗粒的质量比，计为量子点表面配体含量的步骤包括：

提供P浓度标准曲线；

将样品颗粒进行消解，配置得到样品溶液；

将样品溶液置于等离子体原子发射光谱分析仪中进行测试，得到P元素的原子发射强度；对照标准曲线确定样品溶液中P元素的浓度，计算得到P元素占样品颗粒的质量比，计为量子点表面配体含量。

7.根据权利要求6所述的量子点墨水的配置方法，其特征在于，所述P浓度标准曲线通过如下方法得到：提供磷ICP标准液，用浓度3-10％盐酸溶液稀释，配置成磷元素浓度为0.01-0.1mmol/ml的标准溶液，采用电感耦合等离子体原子发射光谱分析仪测量不同浓度标准液的中P元素的原子发射强度，以磷元素浓度、原子发射强度为坐标，绘制标准曲线。