[发明专利]一种电池片的光衰方法

说明书

本申请公开了一种电池片的光衰方法，包括：测试电池片的初始电性能；将所述电池片放入透明容器中；对所述透明容器抽真空之后进行密封；对容纳有所述电池片的所述透明容器进行光照；测试所述电池片的光衰后电性能，得到光衰结果。本申请提供的上述电池片的光衰方法，能够简化光衰流程，降低测试成本，提高测试准确性。

技术领域

本发明属于光伏设备技术领域，特别是涉及一种电池片的光衰方法。

背景技术

目前，掺硼P型晶体硅太阳电池是占据光伏市场70％以上的产品，然而，该种太阳电池在使用的时候会出现效率下降的现象，该现象被称之为光致衰减(Light-induceddegradation：LID)，多晶电池衰减比例相对为1％—2％，而单晶衰减比例可达3％—5％。目前普遍认为，光致衰减是由硅中的B-O对所造成的，该B-O对极易俘获少子，使得少子寿命下降，导致电池转换效率下降，即光致衰减现象。

光衰研究就是将电池片置于光源下进行照射，测试其照射前后的电学性能并得到相对应的光衰减幅度。研究电池片的光衰减情况一般有两种办法，一种是将电池片放置于模拟太阳光发生器的光衰箱里进行光照，但是这种光衰箱一般造价较高，且其稳定的光源设定无法模拟户外太阳光随时变化的实际情况；另一种是将电池片做成组件，将组件放置于模拟太阳光发生器的光衰箱内或室外，进行长时间的光照，但是该方法无法直接测试电池片的电学性能，且组件制作过程中的封装损失、EVA背板等衰减也将归入到光衰减中，导致电池片实际光衰减偏大。

发明内容

为解决上述问题，本发明提供了一种电池片的光衰方法，能够简化光衰流程，降低测试成本，提高测试准确性。

本发明提供的一种电池片的光衰方法，包括：

测试电池片的初始电性能；

将所述电池片放入透明容器中；

对所述透明容器抽真空之后进行密封；

对容纳有所述电池片的所述透明容器进行光照；

测试所述电池片的光衰后电性能，得到光衰结果。

优选的，在上述电池片的光衰方法中，所述透明容器为透明自封袋。

优选的，在上述电池片的光衰方法中，所述初始电性能和所述光衰后电性能均包括开路电压、短路电流、填充因子和光电转换效率。

优选的，在上述电池片的光衰方法中，所述对所述透明容器抽真空为以0.1L/min的速率对所述透明容器抽真空。

优选的，在上述电池片的光衰方法中，所述对容纳所述电池片的所述透明容器进行光照为：

将所述透明容器放置在光衰箱内或室外进行光照。

优选的，在上述电池片的光衰方法中，所述得到光衰结果为：

根据所述初始电性能中的第一光电转换效率和所述光衰后电性能中的第二光电转换效率计算所述光衰结果。

通过上述描述可知，本发明提供的电池片的光衰方法，由于包括测试电池片的初始电性能；将所述电池片放入透明容器中；对所述透明容器抽真空之后进行密封；对容纳有所述电池片的所述透明容器进行光照；测试所述电池片的光衰后电性能，得到光衰结果，因此能够简化光衰流程，降低测试成本，提高测试准确性。

附图说明

为了更清楚地说明本发明实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本发明的实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据提供的附图获得其他的附图。

图1为本申请实施例提供的第一种电池片的光衰方法的示意图。