[发明专利]基于PPC软体的AOI多工位系统及方法

权利要求书

1.一种基于PPC软体的AOI多工位系统，其特征在于：包括若干个工位(1)、取像服务器(2)、AOI硬件平台(3)；

所述工位(1)：包括运算服务器(1-1)、相机(1-2)，用于对待检测面板进行上电操作、拍摄面板图像、对图像数据进行检测；所述工位(1)中包括若干个运算服务器(1-1)和若干个相机(1-2)；

所述取像服务器(2)：用于部署EDC软体、PPC软体，记录工位(1)特征信息，发出上电指令、取像指令，接收检测结果，形成检测报告；

所述AOI硬件平台(3)：用于控制工位(1)中相机(1-2)拍摄的面板图像，并存储面板图像；

EDC软体向PPC软体发出工位(1)的上电指令和取像指令，工位(1)对待检测面板进行上电操作，取像服务器(2)与AOI硬件平台(3)通信，AOI硬件平台(3)控制相机(1-2)拍摄待检测面板图像，AOI硬件平台(3)自动取像；所述PPC软体从AOI硬件平台(3)取像并分配到该工位(1)对应的运算服务器(1-1)。

2.根据权利要求1所述的基于PPC软体的AOI多工位系统，其特征在于：所述运算服务器(1-1)上部署IPC软体，用于对图像数据进行检测。

3.根据权利要求1所述的基于PPC软体的AOI多工位系统，其特征在于：所述取像服务器(2)通过PPC软体控制每个工位(1)中运算服务器(1-1)与相机(1-2)拍摄的面板图像的对应关系。

4.根据权利要求1所述的基于PPC软体的AOI多工位系统，其特征在于：所述运算服务器(1-1)与相机(1-2)的个数不相等。

5.一种根据权利要求1所述的基于PPC软体的AOI多工位系统的方法，其特征在于：包括如下步骤：

1)部署于取像服务器(2)的PPC软体收录面板检测线体上所有工位(1)的特征信息及执行流程；

2)EDC软体向PPC软体发出工位(1)的上电指令和取像指令，工位(1)对待检测面板进行上电操作，取像服务器(2)与AOI硬件平台(3)通信，AOI硬件平台(3)控制相机(1-2)拍摄待检测面板图像，AOI硬件平台(3)自动取像；

3)所述PPC软体从AOI硬件平台(3)取像并分配到该工位(1)对应的运算服务器(1-1)；

4)部署于所述运算服务器(1-1)的IPC软体对图像数据进行检测，检测完成之后将检测结果发送至PPC软体；

5)所述PPC软体将每个IPC软体的检测结果进行汇总、收集，形成检测报告。

6.根据权利要求5所述的基于PPC软体的AOI多工位系统的方法，其特征在于：所述步骤2)中EDC软体同时向PPC软体发送多个工位(1)的上电指令和取像指令，所述PPC软体区分不同工位(1)的特征信息及执行流程，分别执行。

7.根据权利要求5所述的基于PPC软体的AOI多工位系统的方法，其特征在于：所述步骤3)中，所述PPC软体根据检测时间要求分配运算服务器(1-1)与相机(1-2)拍摄的面板图像的对应关系。

8.根据权利要求5所述的基于PPC软体的AOI多工位系统的方法，其特征在于：所述步骤5)中所述PPC软体形成的检测报告中包括基于每个工位(1)的检测结果。