[发明专利]适用于35GHz交流频率下工作的GaN整流器及其制备方法有效
申请号: | 201711351659.1 | 申请日: | 2017-12-15 |
公开(公告)号: | CN108172573B | 公开(公告)日: | 2020-04-28 |
发明(设计)人: | 王文樑;李国强;李筱婵;李媛 | 申请(专利权)人: | 华南理工大学 |
主分类号: | H01L27/04 | 分类号: | H01L27/04;H01L29/10;H01L29/20;H01L21/328 |
代理公司: | 广州市华学知识产权代理有限公司 44245 | 代理人: | 陈文姬 |
地址: | 511458 广东省广州市*** | 国省代码: | 广东;44 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 适用于 35 ghz 交流 频率 工作 gan 整流器 及其 制备 方法 | ||
本发明公开了适用于35GHz交流频率下工作的GaN整流器的制备方法:在硅衬底上依次生长N极性面GaN缓冲层、碳掺杂半绝缘化N极性面GaN层、非掺杂N极性面AlGaN层、非掺杂N极性面GaN层和非掺杂N极性面InGaN薄膜,得到整流器外延片;在GaN整流器外延上制备肖特基接触电极图案凹槽,并在凹槽中沉积肖特基接触电极;制备欧姆接触电极图案,并在外延片表面沉积器件欧姆接触电极;随后在外延片表面无电极部分沉积氮化硅钝化层,制备表面电极区域;最后再对GaN整流器外延片进行台面隔离处理。本发明实现了高频GaN整流器的制备,提高整流器件在大功率工作下的性能稳定性。
技术领域
本发明涉及整流器,特别涉及适用于35GHz交流频率下工作的GaN整流器及其制备方法。
背景技术
整流器作为一种在国防、传能等领域具有重要作用的功率电子元器件而备受各界关注。传统的Si基整流晶闸管由于材料本身禁带宽度窄、电子饱和迁移速率低、热导系数低等缺点,造成器件体积大、反向漏电流大、中频工作条件下发热严重,性能稳定性等问题,难以满足日益增长的器件小型化、集成化、高频化需求,因此急需开发一种能应用与高频领域并同时满足器件小型化、集成化应用需求的新一代整流器件。关于以GaN为代表的III族氮化物整流器的研究由此兴起。以GaN为代表的第三代氮化物半导体材料相比于传统Si基材料,具有更宽的禁带宽度、更高的临界击穿电场、更高的极限工作温度与饱和电子迁移率等优异特性意味着GaN整流器件相比于Si基整流晶闸管更适合应用于高压、高频的工作场合,更优异的导热特性更赋予了GaN整流器在小型化、集成化应用领域更广阔的应用前景与性能稳定性。因此,探索35GHz高交流频率下工作的GaN整流器的实现方法具有开创性的革命意义与社会应用价值。
发明内容
为了克服现有技术的上述缺点与不足,本发明的目的在于提供一种适用于35GHz交流频率下工作的GaN整流器的制备方法,该方法具有制备,与现有生产手段匹配性高且易于实现的优点。
本发明的目的通过以下技术方案实现:
适用于35GHz交流频率下工作的GaN整流器的制备方法,包括以下步骤:
(1)在硅衬底上依次生长N极性面GaN缓冲层、碳掺杂半绝缘化N极性面GaN层、非掺杂N极性面AlGaN层、非掺杂N极性面GaN层和非掺杂N极性面InGaN薄膜,得到整流器外延片;
(2)将步骤(1)所得GaN整流器外延片依次置于丙酮、去离子水、无水乙醇中超声处理,拿出后经去离子水清洗再用热高纯氮气吹干;
(3)对步骤(2)得到的GaN整流器外延片进行肖特基接触电极图案光刻制备:通过旋涂匀胶在步骤(2)所得GaN整流器外延片上均匀涂抹光刻胶,将涂有光刻胶的GaN整流器外延片进行预烘,随后放入光刻机中进行曝光,最后将曝光后的外延片浸入显影液中进行光刻显影并清洗;
(4)对光刻后GaN整流器外延片进行反应离子刻蚀,在GaN整流器外延片中,沿肖特基接触电极图案刻蚀出凹槽,得到欧姆接触电极;
(5)将步骤(4)所得刻有欧姆接触电极对应图案凹槽的GaN整流器外延片放入电子束蒸发设备中,对蒸发腔体抽真空,随后依次蒸镀肖特基接触电极金属,蒸镀结束后,对GaN整流器外延片进行退火;
(6)将GaN整流器外延片浸入去胶液后去除,使用去离子水冲洗并使用丙酮对GaN整流器外延片表面残留的光刻胶与蒸镀金属进行超声处理去除,超声后再经去离子水清洗,再用热高纯氮气吹干;
(7)通过掩膜板中的对准标记,对GaN整流器外延片进行对准,重复步骤(3)工艺,在相应位置上光刻显影,制备器件欧姆接触电极图案并清洗;
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H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L27-00 由在一个共用衬底内或其上形成的多个半导体或其他固态组件组成的器件
H01L27-01 .只包括有在一公共绝缘衬底上形成的无源薄膜或厚膜元件的器件
H01L27-02 .包括有专门适用于整流、振荡、放大或切换的半导体组件并且至少有一个电位跃变势垒或者表面势垒的;包括至少有一个跃变势垒或者表面势垒的无源集成电路单元的
H01L27-14 . 包括有对红外辐射、光、较短波长的电磁辐射或者微粒子辐射并且专门适用于把这样的辐射能转换为电能的,或适用于通过这样的辐射控制电能的半导体组件的
H01L27-15 .包括专门适用于光发射并且包括至少有一个电位跃变势垒或者表面势垒的半导体组件
H01L27-16 .包括含有或不含有不同材料结点的热电元件的;包括有热磁组件的