[发明专利]一种量子点表面配体覆盖率的测定方法

权利要求书

1.一种量子点表面配体覆盖率的测定方法，其特征在于，包括：

提供样品颗粒，所述样品颗粒中的单个颗粒包括量子点和结合在所述量子点表面的含磷的有机配体，所述量子点中不含磷元素；

测定所述样品颗粒的平均粒径；

运用核磁共振分析仪测定到有机配体中P元素与样品颗粒的质量比，计算得到量子点表面配体覆盖率K_i；

其中，所述表面配体覆盖率K_i是指量子点表面单位面积内结合表面配体的物质的量。

2.根据权利要求1所述量子点表面配体覆盖率的测定方法，其特征在于，运用核磁共振分析仪测定到有机配体中P元素与样品颗粒的质量比，计算得到量子点表面配体覆盖率K_i的步骤包括：

提供内标物溶液，所述内标物溶液的溶剂为氘代氯仿，运用核磁共振设备获得内标物溶液的PNMR曲线；

提供样品颗粒溶液，所述样品颗粒溶液的溶剂为氘代氯仿，将所述内标物溶液加入所述样品颗粒溶液，制备得到待测溶液，运用核磁共振设备获得待测溶液的PNMR曲线；

根据内标物溶液的PNMR曲线与待测溶液的PNMR曲线进行积分运算，计算得到样品颗粒溶液中P元素浓度，换算得到机配体中P元素与样品颗粒的质量比，得到量子点表面配体覆盖率K_i。

3.根据权利要求2所述量子点表面配体覆盖率的测定方法，其特征在于，所述内标物溶液中，所述内标物的浓度为10-60mg/mL。

4.根据权利要求2所述量子点表面配体覆盖率的测定方法，其特征在于，所述内标物溶液中，所述内标物选自苯酯、磷酸三丁酯或久效磷。

5.根据权利要求2所述量子点表面配体覆盖率的测定方法，其特征在于，所述样品颗粒溶液中，所述样品颗粒的浓度为10-60mg/ml。

6.根据权利要求2所述量子点表面配体覆盖率的测定方法，其特征在于，运用核磁共振设备获得内标物溶液的PNMR曲线或运用核磁共振设备获得待测溶液的PNMR曲线的测定条件为：工作频率为150-200MHz，测试温度为275-325K，PNMR的谱宽为64-102Hz。

7.根据权利要求6所述量子点表面配体覆盖率的测定方法，其特征在于，运用核磁共振设备获得5-10幅待测溶液的PNMR曲线，根据内标物溶液的PNMR曲线分别与所述5-10幅待测溶液的PNMR曲线进行积分运算，取平均值计算得到样品颗粒溶液中P元素浓度，换算得到机配体中P元素与样品颗粒的质量比，得到量子点表面配体覆盖率。

8.根据权利要求1所述量子点表面配体覆盖率的测定方法，其特征在于，所述量子点选自一元量子点、二元量子点、三元量子点或四元量子点。

9.根据权利要求8所述量子点表面配体覆盖率的测定方法，其特征在于，所述一元量子点选自Au、Ag、Cu、Pt或C量子点；

所述二元量子点选自CdSe、ZnSe、PbSe、CdTe、ZnO、MgO、CeO₂、NiO、TiO₂、InP或CaF₂量子点；

所述三元量子点选自CdZnSe、NaYF₄、NaCdF₄、ZnCdTe、CdZnSe/ZnSe、CdSe/CdZnSe/CdZnSe/ZnSe或CdZnSe/CdZnSe/ZnSe量子点；

所述的四元量子点选自CdZnSeyS、CdSe/ZnS、CdZnSe/ZnS、CdSe/CdS/ZnS、CdSe/ZnSe/ZnS、CdZnSe/CdZnS/ZnS或InP/ZnS量子点。

10.根据权利要求1所述量子点表面配体覆盖率的测定方法，其特征在于，所述的量子点表面配体选自烷基磷、烷基氧膦和烷基磷酸中的一种或几种。