[发明专利]POR电路的测试系统及集成电路

说明书

本发明公开了一种POR电路的测试系统及集成电路。所述POR电路集成在集成电路上，所述POR电路包括电压检测端和输出端，所述集成电路包括第一IO引脚和第二IO引脚，所述第二IO引脚与所述输出端连接；所述测试系统用于在接收到测试指令时控制所述集成电路通过所述第一IO引脚输出测试电压至所述电压检测端，并检测所述第二IO引脚的电压值以计算所述POR电路的指标参数。本发明通过复用集成电路的两个IO引脚实现了对POR电路的测试，测试过程简单便捷，且准确率和测试效率均大大提高。

技术领域

本发明涉及电子技术领域，特别涉及一种POR(上电复位)电路的测试系统及集成电路。

背景技术

一般来说，在数字或数模混合的集成电路里会集成一个或多个POR电路，来为数字电路里的时序电路部分提供上电复位功能。

由于POR的指标决定着使用POR电路的集成电路的初始工作环境是否正确，所以产品测试时POR是一项重要的测试项。现有技术中，采用调节集成电路的供电电压，观测POR的复位输出的电压值的方式实现对POR进行测试。但采用该方式会存在一些弊端：

测量下降阈值时，当供电电压下降到POR阈值以下时，测试控制电路可能为逻辑不确定状态，要继续下面的测试，需要复位测试控制电路而重新建立测试流程；且有些POR需要外部参考电压，而当供电电压降到POR阈值附近时，参考电压已经不准确，致使POR的阈值不能得到准确测试。

测量上升阈值时，需要将供电电压从0V逐渐增大，直至测到POR的输出信号，当供电电压较低时，集成电路还未进入POR测试模式，管脚不能输出POR的测试功能，也就不能准确检测上升阈值。

另外，由于测试时供电电压会发生变化，因此测试POR电路时，难以对集成电路的其他模块进行测试。

可见，现有技术的通过调节集成电路的供电电压的方式实现对POR电路进行测试不仅测试过程繁琐，效率低，而且准确度较低。

发明内容

本发明要解决的技术问题是为了克服现有技术中通过调节集成电路的供电电压的方式实现对POR电路进行测试不仅测试过程繁琐，效率低，而且准确度较低的缺陷，提供一种POR电路的测试系统及集成电路。

本发明是通过下述技术方案来解决上述技术问题：

一种POR电路的测试系统，所述POR电路集成在集成电路上，所述POR电路包括电压检测端和输出端，所述集成电路包括第一IO(输入输出)引脚和第二IO引脚，所述第二IO引脚与所述输出端连接；

所述测试系统用于在接收到测试指令时控制所述集成电路通过所述第一IO引脚输出测试电压至所述电压检测端，并检测所述第二IO引脚的电压值以计算所述POR电路的指标参数。

较佳地，所述指标参数包括上升阈值和/或下降阈值。

较佳地，所述测试系统包括：切换单元、控制模块和计算模块；

所述控制模块用于在接收到所述测试指令时，控制所述切换单元使所述电压检测端与所述第一IO引脚连接；

所述计算模块用于根据所述电压值计算所述上升阈值和/或下降阈值。

较佳地，所述集成电路还包括电源电压引脚；

所述控制模块还用于在接收到工作指令时，控制所述切换单元使所述电压检测端与所述电源电压引脚连接。

较佳地，所述切换单元包括：开关；

所述开关包括：动端、第一不动端和第二不动端；

所述动端与所述电压检测端连接，所述第一不动端与所述第一IO引脚连接，所述第二不动端与所述电源电压引脚连接；