[发明专利]等效温度循环的测试系统及测试方法、计算机存储介质

说明书

本发明实施例提供了一种产品等效温度循环的测试系统及测试方法、计算机存储介质，该测试系统包括：待测产品和气压脉冲试验系统，待测产品与气压脉冲试验系统的气路相通；待测产品内部间隙连通；气压脉冲试验系统用于获取压力测试参数，并根据压力测试参数为待测产品施加指定气压；其中：压力测试参数是根据待测产品温度循环时的各个温度与每一温度对应的待测产品内部气压的对应关系预先确定出的。由于压力测试参数是根据待测产品的温度与待测产品内部气压的对应关系预先确定出的，因此能够通过为待测产品施加指定气压，等效实现对待测样品的温度循环测试，这样进行温度循环测试时，不需要采用温度试验箱，降低了对温度试验箱的依赖性。

技术领域

本发明涉及可靠性测试技术领域，尤其涉及一种等效温度循环的测试系统及测试方法、计算机存储介质。

背景技术

温度循环作为自然环境的模拟，可以考核产品在不同环境条件下的适应能力，常用于产品在开发阶段的试验，以及元器件的筛选试验。温度循环的技术指标包括：高温温度、高温保持时间、温度下降速率、低温温度、低温保持时间、温度上升速率、循环次数等参数。

在自然环境中，不同地区由于不同的地理位置，产生的温度效应也各不相同。例如在我国北方地区冬天是低温的环境，而南方地区的夏天是高温的环境，温度循环试验是用来确认产品在温度气候环境条件下储存、运输、使用的适应性。

传统的温度循环试验，需要依托于温度试验箱，按照试验要求设定好试验所需的温度，以及温度试验箱温度变化速率，然后再将试验样品放进该温度试验箱中，即可开始温度循环试验。

而本申请发明人发现现有技术的温度循环试验存在以下两方面的不足：

第一、现有技术的温度循环试验方法必须依托于温度试验箱才能开展试验，温度试验箱的温度范围、温度变化速率、温度试验箱的容积都是试验的制约因素。

第二、现有技术的温度试验箱一旦确定了试验温度、温度变化速率、循环周期数，温度循环试验的试验耗时就基本固定了，在不改变试验方案的情况下，不能通过其它方式加快试验进度。

发明内容

本发明的首要目的旨在提供一种产品等效温度循环的测试系统，用以解决现有技术的温度循环试验对温度试验箱的依赖性。

本发明的另一目的旨在提供一种产品等效温度循环的测试方法，用以解决现有技术的温度循环试验对温度试验箱的依赖性，以及解决现有技术温度循环试验无法加快试验进度的问题。

本发明的又一目的旨在提供一种计算机存储介质，用于解决现有技术温度循环试验无法加快试验进度的问题。

为了实现上述目的，本发明提供以下技术方案：

一种产品等效温度循环的测试系统，包括：待测产品和气压脉冲试验系统，所述待测产品与所述气压脉冲试验系统的气路相通；

所述待测产品内部间隙连通；

所述气压脉冲试验系统用于获取压力测试参数，并根据所述压力测试参数为所述待测产品施加指定气压；其中：

所述压力测试参数是根据所述待测产品温度循环时的各个温度与每一温度对应的所述待测产品内部气压的对应关系预先确定出的。

优选地，所述气压脉冲试验系统包括：具有压力控制器的压力输出设备、压力传感器和压力补偿单元；

所述压力传感器与所述压力输出设备电连接；

所述压力补偿单元与所述压力传感器电连接；

所述压力传感器和所述压力补偿单元均与所述待测产品预先设置的气孔中插入的短管气路连接。

优选地，所述气压脉冲试验系统还包括压力换向器，所述压力换向器与所述压力输出设备电连接，并与所述待测产品预先设置的气孔中插入的短管气路连接；