[发明专利]一种生成测试用例的方法和装置

说明书

本发明公开了一种生成测试用例的方法和装置，涉及计算机技术领域。该方法的一具体实施方式包括：根据预设的参数范围阈值和获取的接口参数，确定测试的参数数量；根据每个接口的参数数量对所有接口进行排序，以将每个接口的参数设置于树形结构的各结点中；根据树形结构的多个叶子结点，由根结点到叶子结点生成测试用例。该实施方式克服了现有技术中在一定的置信区间下设计较少的测试用例来满足绝大部分测试目标存在困难的技术问题，进而达到利用树形结构来生成较少的测试用例的技术效果，有利于利用生成的较少的测试用例来覆盖较多的测试范围。

技术领域

本发明涉及计算机技术领域，尤其涉及一种生成测试用例的方法和装置。

背景技术

测试用例(Test Case)是为某个特殊目标而编制的一组测试输入、执行条件以及预期结果，以便测试某个程序路径或核实是否满足某个特定需求。测试用例的选择无论对于黑盒测试还是对于白盒测试来说都起着关键的作用。一般而言，测试用例设计和选择的原则是在给定的测试需求下所选择的测试用例集合要尽可能覆盖要测试的所有可能性。

目前，在接口测试中常用的测试方法有以下两种：

1、在应用中调用接口，即间接测试接口。在应用中测试接口时，由于应用中数据情况有限，所以无法覆盖所有的输入情况。

2、单独对接口进行测试，即直接测试接口。常用的测试用例选择方法是对每个接口的参数采用边界值分析法和等价类划分法选取一些典型性的值，或者采用启发式从中进行筛选。

在实现本发明过程中，发明人发现现有技术中至少存在如下问题：

基于黑盒的接口测试用例选择方法是使用边界值分析方法和等价类划分方法等选取一组较为典型的值，然后在这些取值组合中随机选取一组测试用例进行软件测试。但是如果对于被测软件系统来说具有多个输入参数，而且它们可能由于自身的取值约束关系，具有不同的取值范围，最终会造成测试用例的集合具有很大的规模，这给选取测试用例带来了困难，如果随机选取的话，有可能造成选取的测试用例不能够涵盖大多数测试需求，如果要涵盖大多数测试需求，则不得不面对如此多的测试用例。

因此，如何在一定的置信区间下设计较少的测试用例来满足绝大部分测试目标，是亟待解决的技术问题。

发明内容

有鉴于此，本发明实施例提供一种生成测试用例的方法和装置，能够解决现有技术中在一定的置信区间下，无法生成较少的测试用例来满足绝大部分的测试目标的问题。

为实现上述目的，根据本发明实施例的一个方面，提供了一种生成测试用例的方法。

本发明实施例一种生成测试用例的方法包括：根据预设的参数范围阈值和获取的接口参数，确定测试的参数数量；根据每个接口的参数数量对所有接口进行排序，以将每个接口的参数设置于树形结构的各结点中；根据树形结构的多个叶子结点，由根结点到叶子结点生成测试用例

可选地，本发明的实施例在由根结点到叶子结点生成测试用例的步骤之后还包括：以多个测试用例为测试用例集，验证测试用例集中各结点形成的路径在树形结构中是否全覆盖；若验证通过，则以所述测试用例集为最终结果；若验证不通过，则将在树形结构中遗漏的路径补充到测试用例集中。

可选地，本发明的实施例验证测试用例集中各结点形成的路径在树形结构中是否全覆盖的步骤包括：基于测试用例集中各结点形成的路径，在树形结构的每两层上进行验证，验证测试用例集中各结点是否全覆盖；将在树形结构中遗漏的路径补充到测试用例集中的步骤包括：根据遗漏的路径所对应的结点的位置确定该结的点子结点的位置以及该结点的父结点的位置，然后根据重新确定的所有结点的位置，由根结点到叶子结点生成补充测试用例；将补充测试用例补充到测试用例集中。